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大功率测试探针台技术改造

来源: 发布时间:2023年06月25日

探针台由哪些部分组成?1.样品台(载物台)载物台是定位晶圆或芯片的部件设备。通常会根据晶圆的尺寸来设计大小,并配套了相应的精密移动定位功能。克洛诺斯科技自主研发的超精密气浮运动平台就是作为定位晶圆或芯片的部件设备,重复定位精度达±50纳米,可以依靠精密机械运作在极短的曝光时间内完美定位,完成晶圆在量测端的极精密的检测。2.光学元件这个部件的作用是能够从视觉上放大观察待测物,以便精确地将探针前列对准并放置在待测晶圆/芯片的测量点上。3.卡盘有一个非常平坦的金属表面,卡盘用夹具来固定待测物,或使用真空来吸附晶圆。探针台如何工作?探针台可以固定晶圆或芯片,并精确定位待测物。手动探针台的使用者将探针臂和探针安装到操纵器中,并使用显微镜将探针前列放置到待测物上的正确位置。一旦所有探针前列都被设置在正确的位置,就可以对待测物进行测试。对于带有多个芯片的晶圆,使用者可以抬起压盘,压盘将探针头与芯片分开,然后将工作台移到下一个芯片上,使用显微镜找到精确的位置,压板降低后下一个芯片可以进行测试。半自动和全自动探针台系统使用机械化工作台和机器视觉来自动化这个移动过程,提高了探针台生产率。 探针台广泛应用于科研单位研发测试、院校教学操作、企业实验室芯片失效分析等领域。大功率测试探针台技术改造

低温探针台中低电流测量的注意事项:低电流测量(低于 1 nA)是评估成熟和新兴半导体器件的设计和制造质量的关键工具。在这种情况下,器件材料、生长参数或器件几何形状的修改会导致器件中出现不希望的和无关的电流路径。这些所谓的漏电流可能是由材料缺陷、栅极氧化物形态、衬底选择和电场分布造成的,并导致器件性能下降——常见的是功耗过大。由于许多这些泄漏路径背后的物理机制具有众所周知的温度依赖性,因此低温探测测量可以成为识别电流泄漏的精确机制的有用评估工具,特别是对于新材料和器件架构。桌面探针台维修探针台由哪些部分组成?

探针台可以将电探针、光学探针或射频探针放置在硅晶片上,从而可以与测试仪器/半导体测试系统配合来测试芯片/半导体器件。这些测试可以很简单,例如连续性或隔离检查,也可以很复杂,包括微电路的完整功能测试。可以在将晶圆锯成单个管芯之前或之后进行测试。在晶圆级别的测试允许制造商在生产过程中多次测试芯片器件,这可以提供有关哪些工艺步骤将缺陷引入产品的信息。它还使制造商能够在封装之前测试管芯,这在封装成本相对于器件成本高的应用中很重要。探针台还可以用于研发、产品开发和故障分析应用。

光电流测试探针台系统是在金相显微镜基础上导入另一路光源,用于辐照样品以测试样品在特定波长及能量下的电气特性等测试目的。l本显微镜设计为双光路或3光路,其中一路为导入光通路,另一到两路为成像光路导入光为平行的激光或其它线性光源,波长范围200nm~20000nm,中间可加入多个波片过滤,起偏及偏振角度无级360度调节。光斑辐照直径有650nm红光指示。l所有模块均可拉出设计,对导入光性质无影响。导入光光路可选择一个光时间开关,精确控制导入光的辐照时间,精度1ms,范围2ms~∞,在控制界面上可对各种参数进行详细设置。成像光路为同轴照明金相成像,其中一路为1倍成像,可选择第2路成像,为物镜的0.25~10倍率,通常在高低温测试系统里会用到,同一个物镜不切换,得到两个不同视野的成像。选购手动探针台的注意事项。

    探针台的工作原理1.探针台工作原理将待测物吸附在载物台上后推入探针台腔体内,利用探针座精密移动探针,通过显微镜的观察,将探针与待测物接触,然后将探针座上的电缆与仪表连接,通过自带的软件实现器件的参数测量和提取。结果方便保留对比查看。2.探针台功能通过连接仪器及待测物实现器件的参数提取,通过自带的驱动及测试软件能够实现器件的电学特性测试,为精密器件提供一个良好的系统平台,探针台可以搭配多种测试仪器使用,比如示波器,频谱仪,IV等等。3.探针台用途探针台主要应用于半导体行业、光电行业、集成电路以及封装的测试。广泛应用于复杂、高速器件的精密电气测量的研发,旨在确保质量及可靠性,并缩减研发时间和器件制造工艺的成本。芯片制造结束后即可在线测试,从源头即可监控。探针台用于对集成电路、三极管、二极管及光电探测器的IV/CV参数等性能测试与表征,是研究中不可缺少的基本设备。4.探针台系统性能指标可以实现通过软件对晶片载台X,Y,Z,探针台可搭载光纤,未来可升级满足光电测试载物台在XY方向:±1pm分辨率、小于2μm重复精度、大于50mm/sec的移动速度。 探针台是半导体、晶圆、集成电路中重要的检测设备。高低温探针台配件

探针台的探针的清洗。大功率测试探针台技术改造

探针台是一种辅助执行机构,测试人员把需要量测的器件放到探针台载物台(chuck)上,在显微镜配合下,X-Y移动器件,找到需要探测的位置。接下来测试人员通过旋转探针座上的X-Y-Z的三向旋钮,控制前部探针(射频或直流探针),精细扎到被测点,从而使其讯号线与外部测试机导通,通过测试机测试人员可以得到所需要的电性能参数。探针台工作环境,探针台应放在坚固稳定的台面上,如地基有震动的情况,需要配置主动防震装置,避免在高温、潮湿、激烈震动、阳光直接照射和灰尘较多的环境下使用。使用比较好温度范围为5℃~40℃,比较好湿度是40%到85%,空气中之湿度若低于30%以下,可靠湿度控制器予以控制,使维持50%~60%之范围。使用时门窗尽可能关闭,使室内达到除湿效果    。使用电源:220V,50Hz大功率测试探针台技术改造

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