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RF探针台加装

来源: 发布时间:2023年06月25日

桌面探针系统之射频探针:把传统探针台的体积大、待测物规格限制等一系列缺点改进。我们把探针台的两个探针臂直接分离出来,使用磁吸开关固定在配重块上,装配我们自行研发GS/SG/GSG/GSSG和差分间距可调射频探针,高频率40GHz和67GHz(质量的阻抗控制50欧±2/100欧±2,探针的pitch可覆盖150um~1250um的范围)放在水平的桌面上进行使用、测试。可在桌面上任意活动,根据具体测试环境调节。各规格探针配合67GHz网络分析仪进行高频高速的测试。晶圆级测试自动探针台。RF探针台加装

波铭科仪CH-196高低温真空探针台是我司自主研发的一款在极端环境下给样品加载电学信号的设备。可以实现器件及材料表征的IV/CV特性测试,射频测试,光电测试等。通过液氮或者压缩机制冷,可以在防辐射屏内营造一个稳定的测试环境。在特殊材料,半导体器件等研究方向具有***运用。一般用于相关单位实验室。产品优势:防辐射屏和热沉设计降温速度快,常温降至77k<25mins,提高测试效率液氮自动控制系统,液氮流量模块和温度控制模块一起联动共同控制温度。湖南micro LED探针台低温探针台集成系统。

双面点针探针台可用于晶圆和PCB板测试,用于需要正面和背面同时扎针,以实现各种光/电性能测试需求。该定制探针台具有优良的机械系统,稳定的结构,符合人体工程学,以及多项升级功能。可广泛应用于集成电路、Wafer,LED、LCD、太阳能电。产品优势:可同时完成DC和RF测试大手柄双驱动,省时,省力,省心双光路系统,上光路可升级加载光电流系统。芯片内部线路/pad/电级的IV/CV测试l材料/器件的IV/CV性能测试及FAl芯片/面板内部线路修改/去层(介质绝缘层/钝化层l可对金属线路层激光断线或开路进行熔接l激光可选择性去除特定材料而不损伤下层或基底l激光**小加工精度1*1μml芯片研发流片验证+失效分析**l激光打标LaserMarklLasercut、Laserweld、Laserrepaill超快短脉冲激光精细微加工修复系统

手动探针台基本配置(包含探针台主体、显微镜、针座、探针等),探针台主体-可测试晶圆尺寸:4英寸weili-样品台行程:100mm*100mm-移动分辨率:~:360度-低漏电底栅接口,标准Triax输出-可选400度高温样品台显微镜-三目连续变倍体镜,LED环形照明-光学变倍总倍率45倍,物镜,总放大倍率约700倍针座-磁性吸附底座,XYZ移动范围:12mm-移动分辨率2um-标配4个,可装6个-漏电设计,漏电流探针低于100fA-Triax标准接口输出,Keithley原装低噪声Triax线缆-低漏设计电探针,针尖探针探针直径标配10um,1um尺寸。 探针台规范操作步骤。

手动探针台是广泛应用于半导体行业的综合经济型测试仪器,主要用于半导体芯片的电参数检测。手动探针台是通过两根探针以及吸片盘够成的回路以及相应大型电参数测试仪对芯片中的集成电路进行检测的。应用范围:手动探针台主要用于对生产及科研中的集成电路、三极管、二极管、可控硅及敏感元件管芯的电压、电流、电阻等参数进行手动测试。极低温测试:因为晶圆在低温大气环境测试时,空气中的水汽会凝结在晶圆上,会导致漏电过大或者探针无法接触电极而使测试失败。避免这些需要把真空腔内的水汽在测试前用泵抽走,并且保持整个测试过程泵的运转。高温无氧化测试:当晶圆加热至300℃,400℃,500℃甚至更高温度时,氧化现象会越来越明显,并且温度越高氧化越严重。过度氧化会导致晶圆电性误差,物理和机械形变。避免这些需要把真空腔内的氧气在测试前用泵抽走,并且保持整个测试过程泵的运转。晶圆测试过程中温度在低温和高温中变换,因为热胀冷缩现象,定位好的探针与器件电极间会有相对位移,这时需要针座的重新定位,针座位于腔体外部。我们也可以选择使用操作杆控制的自动化针座来调整探针的位置。探针台与显示器一体化设计。重庆LCR测试探针台

给大家普及一下探针台是干什么用的。RF探针台加装

探针台可以将电探针、光学探针或射频探针放置在硅晶片上,从而可以与测试仪器/半导体测试系统配合来测试芯片/半导体器件。这些测试可以很简单,例如连续性或隔离检查,也可以很复杂,包括微电路的完整功能测试。可以在将晶圆锯成单个管芯之前或之后进行测试。在晶圆级别的测试允许制造商在生产过程中多次测试芯片器件,这可以提供有关哪些工艺步骤将缺陷引入产品的信息。它还使制造商能够在封装之前测试管芯,这在封装成本相对于器件成本高的应用中很重要。探针台还可以用于研发、产品开发和故障分析应用。RF探针台加装

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