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江苏探针台供应

来源: 发布时间:2023年06月18日

N系列探针台是一款适用于4-12英寸晶圆的精密探针台。该系列探针台采用高刚性显微镜龙门设计,结构稳定。显微镜平移台可进行X-Y-Z方向精密位移调节,显微镜放大倍率高,操作方便。同时支持多种功能的升级,非常适合晶圆级的测试应用。该产品主要应用于集成电路/芯片/MEMS器件/管芯晶圆/LED/LCD/太阳能电池等行业的测试及研究领域。在科研单位和半导体工厂都得到了运用。产品优势:显微镜具备高刚性龙门支架且搭配气动升降,保证高质量光学成像质量。卡盘同时具备快速和微调升降,便于样品和探针快速分离,也可以加载探针卡。可升级性强,比较高可升级220G高频,可集成光电流扫描成像或拉曼-瞬态荧光寿命成像系统等。探针台是半导体(包含集成电路、分立器材、光电器材、传感器)行业的检测标配。江苏探针台供应

双面点针探针台可用于晶圆和PCB板测试,用于需要正面和背面同时扎针,以实现各种光/电性能测试需求。该定制探针台具有优良的机械系统,稳定的结构,符合人体工程学,以及多项升级功能。可广泛应用于集成电路、Wafer,LED、LCD、太阳能电。产品优势:可同时完成DC和RF测试大手柄双驱动,省时,省力,省心双光路系统,上光路可升级加载光电流系统。芯片内部线路/pad/电级的IV/CV测试l材料/器件的IV/CV性能测试及FAl芯片/面板内部线路修改/去层(介质绝缘层/钝化层l可对金属线路层激光断线或开路进行熔接l激光可选择性去除特定材料而不损伤下层或基底l激光**小加工精度1*1μml芯片研发流片验证+失效分析**l激光打标LaserMarklLasercut、Laserweld、Laserrepaill超快短脉冲激光精细微加工修复系统武汉毫米波探针台电路板各通道及载体高频高速测试。

探针台-高低温真空光电测试系统功能:用于测试半导体器件,材料,发光器件等综合性能表征系统,可测试参数包括:暗电流、光电流、光电压(光伏器件)、响应速度、光谱响应、变光强的R~P响应等。系统由光源、探针台和光电测试三部分组成,根据用户需求,三大部分可以进行定制化开发,以实现不同光谱覆盖范围、不同测试环境和不同测试功能的实现。探针台可选项: 低温/常温/高温、有背栅/无背栅、光纤导入/无光纤、有磁场/无磁场、真空/非真空 等。

探针台的各种应用,例如器件表征和建模,RF /微波,晶片级可靠性,故障分析,设计验证,和大功率。满足先进半导体测试市场的要求,主要用于解决故障分析,设计验证,IC工程,晶圆级可靠性以及MEMS,高功率,RF和mmW器件测试的特殊要求。系统噪声,非常精确和高度可靠的DC / CV,RF和高功率测量。用于在宽温度范围内实现功率半导体的低接触电阻测量。带互锁功能的安全光幕可通过互锁系统关闭仪器,从而保护用户免受意外高压冲击。该系统具有后门,并由互锁保护,以提供简便的初始测量设置。高低温真空探针测试系统。

桌面探针系统之射频探针:把传统探针台的体积大、待测物规格限制等一系列缺点改进。我们把探针台的两个探针臂直接分离出来,使用磁吸开关固定在配重块上,装配我们自行研发GS/SG/GSG/GSSG和差分间距可调射频探针,高频率40GHz和67GHz(质量的阻抗控制50欧±2/100欧±2,探针的pitch可覆盖150um~1250um的范围)放在水平的桌面上进行使用、测试。可在桌面上任意活动,根据具体测试环境调节。各规格探针配合67GHz网络分析仪进行高频高速的测试。探针台采用高刚性显微镜龙门设计。武汉毫米波探针台

卡盘同时具备快速和微调升降,便于样品和探针快速分离。江苏探针台供应

桌面探针系统

众所周知探针台用于半导体测试,特别是6英寸或者12英寸的晶圆探针台。因为受尺寸限制,导致大尺寸等规格不符的待测物无法进行测试,从而使得众多产品无法得到验证。

对于除了半导体、晶圆、芯片需要测试以外,如同大尺寸电路板、高频高速电路、射频微波器件、高速连接器等所需测试的产品也是需要进行阻抗、S参数的测试。特别是现在高频高速已经进入了56G、112G,单波NRZ通道已经到了56GHz的电信号的时代。所以高频、高速等系列电路板各个通道以及载体都需要进行产品的性能测试。

因此研发推出了桌面探针系统及各规格探针配合67GHz网络分析仪进行高频高速的测试。 江苏探针台供应

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