FUT靶标为棋盘型靶标,采用大面积、均匀温度的辐射源,经表面加工后在高发射率背景下实现低发射率。FUT靶标尺寸较大,能够完全填充被测融合成像系统的视野。利用热像仪和可见光/近红外成像传感器对FUT靶标进行图像采集,为有效的图像融合提供了必要的数据。FUT靶标是一种均匀加热的靶标,通常不能够进行调节高温度。操作较为简单,插上电源加热十几分钟稳定后就可进行使用。
测试功能:FUT靶标可以用于以下测试:•对准误差(热通道光轴相对于可见光通道光轴的角度)•旋转误差(热通道图像与可见通道图像之间的角度)•热成像通道图像相对于可见成像通道图像的二维空间位移图(与另一通道中的同一像素相比,像素的位移量和位移方向的信息)•热像仪分辨率测试 光电测试系统,保障文物修复科学精细。高精度光电测试系统设置
靶标是用于测试光电成像系统时创建参考图像的模块。Inframet提供的靶标可分为两类:1)无源靶标,2)有源靶标。无源靶标需要由黑体或标定光源产生均匀光束照射,生成参考图像模式的图像。这些靶标通常是大型测试系统位于平行光管焦平面的小模块。无源靶标的工作不需要电力供应。
版本型号:
FUT以下列不同标准尺寸的形式提供:FUT118:辐射源尺寸1100x800mm(11x8个100mm大小正方形区域);FUT1511:辐射源尺寸1500x1100mm(15x11个100mm大小正方形区域);FUT2020:辐射源尺寸1900x1900mm(19x19个100mm大小正方形区域);FUT2216:辐射源尺寸2200x1600mm(22x16个100mm大小正方形区域)。还可以定制化交付不同尺寸和图案的定制化FUT靶标。 高精度光电测试系统设置光电技术,应用于教育领域,提升实验教学质量。
由于各种原因,生成高分辨率融合图像较为困难,其中一个原因是需要校正不同成像传感器产生的图像的畸变和放大程度的差异,优化图像校正算法需要对所有成像传感器均可见的已知几何形状的特定目标进行研究。Inframet提供支持双通道融合图像的棋盘式FUT靶标,能够发射热辐射(靶标实际上是一个调节均匀温度的大面积辐射源),也能反射可见光/近红外范围内的入射辐射。因此,无论是在中波红外/长波红外范围内工作的热像仪,还是在可见光/近红外范围内工作的夜视仪/相机,都可以看到相同图像。该靶标可用于确定热成像相对于可见光图像的空间位移二维图。
MTB系列黑体是精密的面源黑体,旨在模拟中温目标。使用一个薄的面加热元件来控制散热器温度。黑体散热器的***温度可以调节在约50摄氏度到550摄氏度之间。发射器面积可以从50x50mm到500x500mm,具体取决于型号。应用MTB黑体可用于一系列可能的应用:1、在中温范围内测量热像仪的精度(已知温度的面源)。2、监控系统SWIR成像仪3、用于测试SWIR/MWIRFPAs的系统
至高温度:典型的至高温度为550℃。如果不需要这样的温度,则最高温度可以降低到350℃,并且提供更好的热均匀性。 光电系统,应用于电梯维护,确保运行安全。
SAFT是专业用来测量成像距离只有几米的短距热像仪的小型模块化设备。绝大多数的商用热像仪属于这一范畴SAFT不使用折射光管作为投射装置,所以分辨率片到被测成像仪的距离须比较短。所以SAFT一般推荐用来检测上面提到的小型短距,小口径,宽FOV的热像仪。如果需要测试大口径或者比较窄视野的热像仪时,我们也提供额外的折射光管供客户选择。由于SAFT把一系列的分辨率片装在了电动光栅上所以它可以快速地测量热像仪的各种参数。一般SAFT由TCB-2D黑体,一组分辨率片,ARC-500屏蔽装置,PC,抓帧器,TAM软件,还有一些可选模块组成。SAFT可以直接投射不同的分辨率片到被测热像仪上,根据被测热像仪所产生的扭曲图像副本再结合软件或者主观判断我们可以衡量出该被测热像仪的性能,另外热像仪的一些重要参数也都包含在了测量项目中。LS-SAL 短波红外光源,精确测试,引导航天工业新高度。广西光电测试系统准不准
光电系统应用于物流,提升包裹分拣准确性。高精度光电测试系统设置
MS系列系统是Inframet主要测试系统,可测量多种红外整机系统:热像仪,可见光-近红外相机,短波红外相机、激光测距机和多传感器测试系统等,进行系统测试和轴对准的测试。测试功能1.不同视场适用波段:可见光,近红外,短波红外,中波红外和长波红外;2.可测量多种红外整机系统:热像仪,可见光-近红外相机,短波红外相机、激光测距机和多传感器测试系统等;
MS多波段整机测试系统测量不同系统的原理如下。测试热像仪:图像投影仪投射图像到中波/长波范围热像仪,由计算机系统生成的图像分析被检测热像仪。高精度的离轴反射式CDT平行光管,TCB差分黑体,以及一组红外靶标用于投影。测试可见光/NIR相机:可见光/NIR投影系统与图像分析计算机系统相结合来测量电视相机。包括CDT反射式平行光管,可见光/NIR光源,和一组可见光靶标; 高精度光电测试系统设置