为完成太空测试任务的红外系统,通常使用模拟太空条件的低温真空黑体进行测试。所需黑体的设计,技术上是一个挑战,由于一系列特殊要求:在真空条件下工作的能力,承受低温度的能力,黑体发射器温度的准确调节,以及远程控制位于真空室中的黑体,其控制中心位于真空室外。VSB黑体是Inframet公司根据太空实验需求开发的新型黑体。VSB黑体是设计用来在环境温度为-173ºC至-33ºC的冷却真空室中工作时,模拟低/中温目标(-10℃至+200℃)的面源黑体。换句话说,VSB黑体是用于在太空环境条件下,模拟地球上的温度目标。VSB黑体的发射器面积尺寸从50x50mm到150x150mm。发射器的温度由紧贴发射器的加热元件阵列来调节。使用超准确算法进行温度稳定控制。VSB黑体针对长距离控制进行了优化,位于真空室内的黑体可以从位于真空室外的PC控制。此外,黑体经过优化,可与MRW-8轮集成配套使用。Inframet DT 热成像光电测试系统,精细分析,助力医疗行业技术革新。INFRAMET光电测试系统特性
MTB系列黑体是精密的面源黑体,旨在模拟中温目标。使用一个薄的面加热元件来控制散热器温度。黑体散热器的***温度可以调节在约50摄氏度到550摄氏度之间。发射器面积可以从50x50mm到500x500mm,具体取决于型号。应用MTB黑体可用于一系列可能的应用:1、在中温范围内测量热像仪的精度(已知温度的面源)。2、监控系统SWIR成像仪3、用于测试SWIR/MWIRFPAs的系统
至高温度:典型的至高温度为550℃。如果不需要这样的温度,则最高温度可以降低到350℃,并且提供更好的热均匀性。 LUMASENSE光电测试系统解决方案Inframet ST短波红外相机测试系统赋能冶金,精确、测试助力材料创新。
MS系列系统是Inframet主要测试系统,可测量多种红外整机系统:热像仪,可见光-近红外相机,短波红外相机、激光测距机和多传感器测试系统等,进行系统测试和轴对准的测试。测试功能1.不同视场适用波段:可见光,近红外,短波红外,中波红外和长波红外;2.可测量多种红外整机系统:热像仪,可见光-近红外相机,短波红外相机、激光测距机和多传感器测试系统等;
MS多波段整机测试系统测量不同系统的原理如下。测试热像仪:图像投影仪投射图像到中波/长波范围热像仪,由计算机系统生成的图像分析被检测热像仪。高精度的离轴反射式CDT平行光管,TCB差分黑体,以及一组红外靶标用于投影。测试可见光/NIR相机:可见光/NIR投影系统与图像分析计算机系统相结合来测量电视相机。包括CDT反射式平行光管,可见光/NIR光源,和一组可见光靶标;
在国际市场提供的典型面源黑体(包括Inframet提供的TCB/MTB黑体)被优化,以模拟在常用的红外辐射光谱带中的黑体目标:约1μm至约15μm。这种黑体的发射面的高发射率是通过温度受控的金属板,与其涂覆的高吸收性涂料薄层来实现。由于这种黑体的发射率在波长约0.1mm处开始下降,并且在波长超过约1mm变得非常低,所以典型的面源黑体不能用于模拟THz带(0.1mm至1mm)和亚THz带(1mm至10mm的波长)的黑体目标温度。在典型的红外黑体中使用的高辐射率涂层对于太赫兹光学辐射而言变得部分半透明,特别是在长波处大约0.5mm。由于以下几个原因,太赫兹区域黑体的设计是一个技术挑战:a)需要THz/短波频谱带中高吸收率涂层的发射体以确保高发射率;b)由于THz/微波成像仪的低分辨率,所以需要大面积的黑体;c)需要很高的温度均匀性、温度稳定性和准确度,以便能够对THz/微波传感器进行准确校准。光电测试系统,保障新能源汽车电池安全。
TCB是由黑体发射器集成控制器电路构建的电脑化的黑体。
TCB黑体作为单一模块交付使用。用户只需连接两根标准电缆(电源和RS232电缆),就可以从PC控制黑体。该解决方案提高了TCB黑体更高的可靠性,对电磁干扰的抵抗力,并简化了其操作。TCB黑体有一系列版本供用户选择使用。有两个重点参数指标:黑体发射面的大小和温度范围。发射面尺寸由黑体代码:TCB-XD表示,其中X是发射面平方的近似尺寸,单位为英寸。
通常提供以下型号:TCB-2D,TCB-4D,TCB-6D,TCB-8D,TCB-12D,TCB-14D,TCB-2oD。在标准版本中,这些黑体温度范围从0℃至100℃进行了优化。 光电系统,提升化工原料纯度检测精度。黑龙江光电测试系统准不准
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Inframet生产的离轴反射式平行光管采用垂直结构,平行光管的焦平面位于反射镜垂直方向的上方。这种类型的平行光管实现了测试系统的简单化结构设计(只需较小、较窄的光学平台)。而且,垂直结构的平行光管更为先进之处在于系统用于热像仪的测试时,垂直结构的黑体温度的均匀性要优于使用相同模块的水平结构。
Inframet使用三个等级的离轴反射镜面:SR(标准分辨率)-制造精度PV不低于λ/2在λ=630nm。HR(高分辨率)-制造精度PV不低于λ/6在λ=630nm(典型λ/10)。UR(超高分辨率)-制造精度PV不低于λ/10在λ=630nm。SQ(极高分辨率)-制造精度PV不低于λ/14在λ=630nm。 INFRAMET光电测试系统特性