显微镜的观察方式，你知道几种？
偏光显微镜具有很高的灵敏度，可用于针对各种各向异性样品的定性和定量研究。定性偏振光显微镜在实践中非常流行，然而偏振光显微镜的定量方面，主要应用于晶体学，矿物学、地质学和化学领域。偏振光显微镜是通过在聚光镜之前和物镜之后插入交叉偏振元件实现的。细胞内具有双折射特性的组分会旋转光的偏振平面，在深色背景上显得明亮。
微分干涉（DIC）是七种观察方式中比较复杂的一种。光路中不仅包括偏光组件，还要包括一组特制棱镜，以放大样品厚度梯度和折射率的微小差异。例如，由于细胞的水相和脂质相之间的折射率差异，脂质双层可以在DIC中产生出色的对比度。
聚焦离子束（FIB）显微镜；共聚焦显微镜
光电流测试显微镜-探针台系统：本显微镜是在金相显微镜基础上导入另一路光源，用于辐照样品以测试样品在特定波长及能量下的电气特性等测试目的。本显微镜设计为双光路或3光路，其中一路为导入光通路，另一到两路为成像光路导入光为平行的激光或其它线性光源，波长范围200nm~20000nm，中间可加入多个波片过滤，起偏及偏振角度无级360度调节。光斑辐照直径有650nm红光指示。所有模块均可拉出设计，对导入光性质无影响。导入光光路可选择一个光时间开关，精确控制导入光的辐照时间，精度1ms，范围2ms~∞，在控制界面上可对各种参数进行详细设置。成像光路为同轴照明金相成像，其中一路为1倍成像，可选择第2路成像，为物镜的0.25~10倍率，通常在高低温测试系统里会用到，同一个物镜不切换，得到两个不同视野的成像。 安徽显微镜规格尺寸显微镜的使用方法及步骤；
扫描透射电子显微镜兼具扫描成像与透射分析的特点，其仪器结构可看作SEM与TEM的结合。STEM主要由电子枪、电子光学系统、样品室、环形探测器与成像设备等组成。STEM与TEM的主要区别在于添加了扫描附件；与SEM的不同在于电子信号探测器安置在样品下方。
优缺点：
优点：（1）成像质量高，受样品厚度与仪器干涉小（2）可达到原子分辨率（3）结果分析简单、直观（4）能够快速获取样品的综合信息，成像效率高。
缺点：（1）制样时间长，对样品的要求高；（2）一些材料在高能电子束中不稳定；（3）测试成本高，仪器分布稀少。
显微镜放置和使用环境的维护：
▪防潮：当空气太潮湿时，光学镜片容易生霉，起雾；机械零件受潮后，容易生锈。平时显微镜室应保证65%以下的湿度，潮湿地区应在室内配置除湿机。
▪控温：为避免热胀冷缩引起镜片开胶与脱落，显微镜室室温建议维持在20-24℃。
▪防尘：光学元件表面落入灰尘，不仅影响光线通过，而且经光学系统放大后，会生成很大的污斑，影响观察。灰尘、砂粒落入机械部分，还会增加磨损，危害同样很大。故显微镜室应该保持干净，显微镜不用时应用防尘罩罩住以防止落灰。
▪防腐蚀：显微镜不能和具有腐蚀性和强挥发性的化学试剂放在一起，如硫酸、盐酸、强碱等。
▪防震：显微镜的光学系统和机械系统都是经过精密校正的，在使用及保管期间要防震，同时也要注意避免阳光直射，避免空调直吹显微镜，以保证它固有的高性能。
▪稳压：显微镜室供电电压波动不应超过正常电压的±10%，电压不稳的地区应加装稳压电源，保护显微镜系统不受损害。 激光共聚焦显微镜的明显优势。
扫描透射电子显微镜 (STEM) 是什么？
扫描透射电子显微镜（Scanning Transmission Electron Microscopy， STEM）由透射电子显微镜（TEM）发展而来，指透射电子显微镜中有扫描附件者，尤其是指采用场发射电子枪作成的扫描透射电子显微镜。扫描透射电子显微分析是综合了扫描和普通透射电子分析的原理和特点而出现的一种新型分析方式，其空间分辨率可达亚埃米级，可在纳米和原子尺度上对材料微结构与精细化学组分的表征与分析。在冶金、材料、环境科学、生物科学等领域具有巨大应用潜力。 体视显微镜和视频显微镜。三丰显微镜种类
正确使用金相显微镜的方法；共聚焦显微镜
共聚焦显微镜扫描时用的是激光光源，激光的穿透力强，可对样本进行一定深度的光学断层，从而获得高标准的连续光学切片，由此做Z轴光学切片后重组出3D效果就能立体地展示样品里荧光的空间分布。配有高精度电动载物台和图像拼接软件，能完美解决放大倍数和整体成像这一问题。可做时间序列拍摄，实时监测荧光变化，可以把荧光变化的过程以动态的形式展示出来。
共聚焦的应用很广，像离体细胞、组织切片、物理材料、模式生物等荧光样本都可以用共聚焦进行拍摄，除了常规的荧光图片拍摄进行定性定位外，还可以进行荧光的半定量分析、共定位分析、荧光漂白恢复（FRAP）、荧光共振能量转换(FRET)等，但也要注意一下，常规405-647nm之间的激发波长都可以支持。 共聚焦显微镜
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