陕西SIR表面绝缘电阻测试分析

温度电阻测试是一种特殊的电阻测试方法，用于测量电阻在不同温度下的变化。电阻在温度变化时会发生变化，这是由于电阻材料的温度系数导致的。温度电阻测试可以通过在待测电阻上施加一个恒定的电流或电压，然后测量电路中的温度来计算电阻的温度系数。温度电阻测试广泛应用于温度传感器和温度控制系统中，以确保系统的稳定性和准确性。还有一些其他的电阻测试方法，例如噪声电阻测试、频率电阻测试等。噪声电阻测试用于测量电阻中的噪声水平，以评估电路的性能和稳定性。频率电阻测试用于测量电阻在不同频率下的变化，以评估电路的频率响应特性。这些电阻测试方法在特定的应用场景中具有重要的意义，可以帮助工程师优化电路设计和改进产品性能。离子在单位强度(V/m)电场作用下的移动速度称之为离子迁移率，它是分辨被测离子直径大小的一个重要参数。陕西SIR表面绝缘电阻测试分析

离子迁移绝缘电阻测试广泛应用于电子产品制造和质量控制过程中。它可以用于检测电子元器件、印刷电路板、电子设备外壳等材料的质量。通过测试，可以及时发现材料中的离子迁移问题和绝缘电阻异常，从而采取相应的措施进行修复或更换，确保电子产品的质量和可靠性。离子迁移绝缘电阻测试的方法主要包括湿度试验、电压加速试验和绝缘电阻测量。湿度试验是将材料置于高湿度环境中，通过观察离子迁移现象来评估材料的质量。电压加速试验是在高电压条件下进行离子迁移测试，以加速离子迁移速率，从而更快地评估材料的质量。绝缘电阻测量是通过测量材料的绝缘电阻值来评估材料的绝缘性能。陕西SIR表面绝缘电阻测试分析授权手机APP可以远程进行相关管理、操作，查看样品监测数据。

离子迁移（ECM/SIR/CAF)的要因分析与解决方案从材料方面：树脂与玻纤纱束之间结合力不足；解决方案：优化CCL制作参数；选择抗分层的材料;填充空洞或树脂奶油层不足；解决方案：优化CCL制作参数；选择抗分层的材料;树脂吸温性差；解决方案：胶片与基板中的硬化剂由Dicy改为PN以减少吸水；树脂与玻纤清洁度差（含离子成份）；解决方案：使用Anti-CAF的材料；铜箔铜芽较长，易造成离子迁移；解决方案：选用Lowprofilecopperfoil；多大

从监控的方式看（除阻值监控外）：ECM/SIR可以通过放大镜进行直观的判断；而CAF只能通过破坏性的切片进行微观条件下的分析；ECM/SIR与CAF的重要性由于介电层变薄、线路及孔距变密是高密度电子产品的特性，而大多数的高阶电子产品也需要较高的信赖度，故越来越多的产品被要求进行ECM/SIR/CAF测试，如航空产品、汽车产品、医疗产品、服务器等，以确保产品在相对恶劣的使用条件下的寿命与可靠性；离子迁移既然是绝缘信赖度的***，因此高密度电子产品都十分在乎及重视材料的吸水性及水中不纯物的控管，因为这些正是离子迁移的重要元凶。例如：加水分解性氯、电镀液中的盐类、铜皮表面处理物、防焊漆的添加物……等等。一旦疏忽了这些控管，导致ECM或CAF的生成，便会造成产品在使用寿命及电性功能上的障碍；藉着控制卤素及金属盐类的含量、铜皮上的铬含量、树脂中的氯含量、表面清洁度（防焊前处理），这些对绝缘劣化影响很大的项目，可以大幅提升高密度电路板的信赖性。防止发生离子迁移故障的一个重要措施当然是要保持使用环境的干燥。

耐CAF评估样品制作影响因素&建议：因CAF产生的条件是处于有金属盐类与潮湿并存的情况下，由于电场驱动，离子沿着玻璃纤维与树脂界面迁移而发生。因此，**根本的措施是让玻璃纤维与树脂界面致密而牢固的结合在一起，不存在任何隙缝。同时，减低树脂的吸水率，进一步提高材料的耐CAF能力。导致样品的CAF产生因素有如下：﹒PCB板由于不良玻璃质处理、压层缺陷、机械应力、热应力或耐化学性差，钻孔后引起压层界面削弱或破坏.温度和湿度***了压层缺陷反应（可能有湿度阀值）.pH值梯度促进CAF形成.导体间电压梯度低至3伏到可能800伏.某些焊剂成分（聚乙二醇）或加工过程中产生的其它离子污染物测试控制软件管理模块：用户管理、工况管理、配置管理、设备管理。广州表面绝缘SIR电阻测试注意事项

电阻测试是一种常见的电子测试方法。陕西SIR表面绝缘电阻测试分析

从监控的方式看：都是通过监控其绝缘阻值变化作为**重要的判断指标；故很多汽车行业或实验室已习惯上把ECM/SIR从广义上定义为CAF的一种（线与线之间的表面CAF）。ECM/SIR与CAF的联系与差异差异点：从产生的原因看：ECM/SIR是在PCB的表面产生金属离子的迁移；而CAF是发生在PCB的内部出现铜离子沿着玻纤发生缓慢迁移,进而出现漏电；从产生的现象看：ECM/SIR会在导体间出现枝丫状(Dendrite)物质；而CAF则是出现在孔~孔、线~线、层~层、孔~线间，出现阳极金属丝；陕西SIR表面绝缘电阻测试分析