您好,欢迎访问

商机详情 -

陕西pcb离子迁移绝缘电阻测试有哪些

来源: 发布时间:2024年01月11日

   定义CAF又称导电性阳极丝,是指印刷电路板电极间由于吸湿作用,吸附水分后加入电场金属离子沿玻纤纱从一金属电极向另一金属电极移动时,分析出金属与化合物的现象。CAF现象会导致绝缘层劣化。背景当前,无论是多层板的层数还是通孔的孔径,无论是布线宽度还是线距,都趋于细微化。由于绝缘距离的缩短以及电子设备便携化的影响,导致电路板容易发生吸湿现象,进而发生离子迁移。同时,当电路板发生离子迁移后,短时间内极易产生故障。待测PCB其正负两极间绝缘距离之规格分别为:两通孔铜壁间的距离为(26mil)孔铜壁到内层**近铜导体的距离为()孔环到外层**近导体的距离为()。 表面绝缘阻抗(SIR)测试数据可以直接反映PCBA的表面清洁度(包括加工、制造过程的残留)。陕西pcb离子迁移绝缘电阻测试有哪些

电阻测试

Sir电阻测试是一种非接触式的电阻测试方法,这种测试方法不需要直接接触电路,因此可以避免对电路的损坏。同时,Sir电阻测试还具有高精度和高速度的优点,可以快速准确地测量电路中的电阻值。它可以用来测量电路中的电阻值。这种测试方法具有高精度和高速度的优点,可以快速准确地测量电路中的电阻值。同时,它还可以用来检测电路中的其他问题,如短路和断路。因此,掌握Sir电阻测试方法对于电子工程师来说非常重要。无论是在实验室环境还是在工业生产中,Sir电阻测试都可以发挥重要作用,提高工作效率。广东pcb离子迁移绝缘电阻测试发展焊锡青、焊锡丝、助焊剂、清洗剂等引起的材料绝缘性能退化评估。

陕西pcb离子迁移绝缘电阻测试有哪些,电阻测试

表面绝缘电阻(SIR)测试是通过在高温高湿的环境中持续给予PCB一定的偏压,经过长时间的试验,观察线路间是否有瞬间短路或出现绝缘失效的缓慢漏电情形发生。表面绝缘电阻(SIR)测试可以用来评估金属导体之间短路或者电流泄露造成的问题,也有助于看出锡膏中的助焊剂或其他化学物品在PCB板面上是否残留任何会影响电子零件电气特性的物质,通过表面绝缘电阻(SIR)测试数据可以直接反映PCB的清洁度。当PCB受到离子性物质的污染、或含有离子的物质时,在高温高湿状态下施加电压,电极在电场和绝缘间隙存在水分的共同作用下,离子化金属向相反的电极间移动(阴极向阳极转移),相对的电极还原成本来的金属并析出树枝状金属的现象(类似锡须,容易造成短路),这种现象称为离子迁移。当存在这种现象时,表面绝缘电阻(SIR)测试可以通过电阻值显现出来。

离子迁移(ECM/SIR/CAF)的要因分析与解决方案从材料方面:树脂与玻纤纱束之间结合力不足;解决方案:优化CCL制作参数;选择抗分层的材料;填充空洞或树脂奶油层不足;解决方案:优化CCL制作参数;选择抗分层的材料;树脂吸温性差;解决方案:胶片与基板中的硬化剂由Dicy改为PN以减少吸水;树脂与玻纤清洁度差(含离子成份);解决方案:使用Anti-CAF的材料;铜箔铜芽较长,易造成离子迁移;解决方案:选用Lowprofilecopperfoil;多大很多用户在使用电阻测试设备过程中会遇到各种问题。

陕西pcb离子迁移绝缘电阻测试有哪些,电阻测试

多功能电阻测试设备是一种集成了多种测试功能的设备,可以同时进行多种电阻测试。它可以测量电阻的值、温度系数、电压系数等多个参数,同时还可以进行电阻的快速测试、自动测试等。这种设备的出现,提高了电阻测试的效率和准确性,为电子产品的质量控制提供了有力的支持。多功能电阻测试设备在电子行业中的应用前景广阔。随着电子产品的不断更新换代,对电阻测试设备的要求也越来越高。传统的电阻测试设备只能进行简单的电阻测量,无法满足复杂电子产品的测试需求。而多功能电阻测试设备可以满足不同电子产品的测试要求,包括手机、电脑、汽车电子等各个领域。因此,多功能电阻测试设备在电子行业中的应用前景非常广阔。监测模块:状态、数据曲线、测试配置、增加测试、预警。湖北sir电阻测试前景

测试控制软件管理模块:用户管理、工况管理、配置管理、设备管理。陕西pcb离子迁移绝缘电阻测试有哪些

电阻测试种类繁多,包括静态电阻测试、动态电阻测试、温度电阻测试等。静态电阻测试是常见的电阻测试方法之一。它通过将待测电阻与一个已知电阻串联,然后通过测量电路中的电压和电流来计算待测电阻的阻值。这种测试方法简单易行,适用于大多数电阻测试场景。在进行静态电阻测试时,需要注意测试电路的稳定性和准确性,以确保测试结果的可靠性。动态电阻测试是一种更为精确的电阻测试方法。它通过在待测电阻上施加一个交变电压或交变电流,然后测量电路中的相位差和幅度来计算待测电阻的阻值。与静态电阻测试相比,动态电阻测试可以消除电路中的噪声和干扰,提高测试结果的准确性。动态电阻测试常用于对高精度电阻的测试,例如精密仪器和测量设备。陕西pcb离子迁移绝缘电阻测试有哪些