机床领域检测系统|标准与非标尺寸检测|泄漏与装配测试|工业电脑与软件
泄漏测试是电池pack装配过程中的基本要求,用于检查电池pack的气密性,以防止水、湿气、灰尘或其他外部污染物进入,这些会导致pack内部的高压零部件出现短路。MARPOSS可以用累积室中的氦气对电池PACK进行泄漏测试。在量产期间进行100%质量检查,需要使用整体泄漏测试方法以很大程度地缩短测试时间。当无法采用空气法(压降法或质量流量法)时,因为它们无法满足测试规范要求,累积室中的氦气示踪法是比较好的测量方案,其具有比较高的测试灵敏度和很短的循环周期。局部放电测试功能由E.D.C.集成在一套完整的产品系列中,单一设备可集成所有不同的电性能和功能测试选项。汽车照明系统检测设备方法
马波斯光谱共焦传感器可在线测量锂离子电池的电极极片。锂离子电池的生产采用R2R工艺,其重点在于在线质量测量,用马波斯光谱共焦传感器可以以非接触测量的方式测量涂布层厚度、极片边缘厚度以及控制极片轮廓并检查极片上的涂布层缺陷。从特征的角度来看,实际上马波斯光谱共焦传感器可测量柔性非透明材料,同时测量大于5微米的薄膜层厚度。这就说明马波斯光谱共焦传感器一定程度上保证了高灵敏度和高精度,是一款真正的同步在线方案测量。汽车照明系统检测设备方法作为标准与同轴电缆零件的A/C软管用双腔机。测量原理是采用质谱仪进行整体测试。
在超高精度加工设备的行业,OptoflashXS可以满足超高精度加工行业的要求。例如,Optoflash可以测量半径小于0.1mm的倒角和圆弧,或者沿轴向很小的直径变化。在医疗用品行业,柔性,是Optoflash能够应用在医疗植入物和加工刀具行业里,十分重要的优势。适合多品种,小批量的检测,性价比高。对于塑料注塑件和高精度的牙科植入件,OptoflashXS检测的速度更快,精度更高。测量过程中的品种切换只需要在用户屏幕上点击一下即可。Optoflash测量系统特别易于使用:开放式的装载区域,符合人机工程学原理的尾架系统,可方便地夹紧待测工件。基于触屏显示器的软件用户界面—可为用户提供良好的操作体验。
在半导体行业,圆晶减薄当然是非常精密的加工过程。在减薄过程中,需要用接触式或非接触式传感器严格控制加工过程。从步骤来看,封装前,圆晶需要达到正确的厚度,这是半导体生产的关键。圆晶背面研磨(圆晶减薄)是一种半导体生产工序,在此期间需要严格控制圆晶厚度,使圆晶达到超薄的厚度,可叠放和高密度封装在微型电子器件中。马波斯传感器甚至可检测到砂轮与圆晶接触的瞬间或检查任何过载。同时,马波斯传感器可在干式和湿式环境中可靠地在线测量厚度。Marposs可以提供测试方案,用于在线或离线的定子绝缘质量检测。
OPTOFLASH柔性光学测量机,是马波斯公司测量机部门的产品。Optoflash不仅能在实验室里,也能在生产现场环境下进行快速、精细的质量控制。该系统提供了一套种类齐全、应用的测量软件,可以轻松地解决各种常见的测量问题,包括静态和动态旋转模式下的尺寸、位置和形状测量。此外,它还具有独特的螺纹参数测量功能。Optoflash测量系统应用了全球关键的光电技术,能以前所未有的快速度,对各类轴类件进行微米级精度的测量。Optoflash机器上所集成的一个或多个固定式光学传感器,可以覆盖整个测量范围。该设计具有突出的优点,即无论是光学系统,还是被测量的零件,两者都无需沿轴向进行移动。马波斯将自动化和测试有效地结合在一起,马波斯将测试技术无缝整合到客户的作业流程中。质量检测设备怎么样
非接触式测量系统,能够对发卡的主要几何特征进行尺寸测量。汽车照明系统检测设备方法
对于半导体行业来说,圆晶测量和缺陷检测都是半导体生产的关键环节,检测和控制生产中的每一步生产质量。为了显微测量,马波斯提供2D光谱共焦线扫相机。在超高分辨率和超大景深应用中,可在Z轴上准确聚焦。因此,这是检测圆晶缺陷的理想选择,例如,圆晶沿的检测和封装期间的检测。这些传感器都允许集成在测量和检测设备中。马波斯和STIL在数十年的发展中积累了丰富的经验,可为用户提供量身定制解决方案和的光学设计。马波斯的小横向分辨率为0.4μm*0.4μm,大倾斜角为+/-45°,0.75数值孔径。汽车照明系统检测设备方法
马波斯(上海)测量设备科技有限公司
联系人:马波斯
联系手机:17765115507
联系电话:021-54362230
经营模式:贸易型
所在地区:上海市-闵行区
主营项目:机床领域检测系统|标准与非标尺寸检测|泄漏与装配测试|工业电脑与软件