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USB4一致性测试和调试解决方案了解USB4的新特点以及新测试要求和挑战，可以帮助您理解这一新标准的变化。泰克USB4一致性测试和调试解决方案提供了一种简便的方式，可以根据USB4电接口一致性测试规范(CTS)v1.0，验证和表征新兴的USB4路由器主机、USB4路由器设备和USB4集线器。、克劳德高速数字信号测试实验室新USB4规范解析及一致性测试的介绍，内容包括：USB总线终将一统江湖吗？·从USB1.0到USB4的发展·USB物理接口的演变2.USB4的规范解析和新特性3.如何验证你的USB4产品·一致性测试规范的解析·克劳德的一致性解决方案USB物理层测试是否包括各种设备类型的测试？解决方案USB物理层测试联系人

测试过程Tektronix示波器对于USB2.0这类接口的测试都有非常完善的测试解决方案，这些方案都是标准流程化的，只要进入到软件测试界面即可按照流程图一步一步的往下进行测试。下面是测试时的相关设置和注意事项：在测试前，首先要预热、校准示波器（大约20分钟）、线缆需要做de-skew。这一步非常的关键，特别是线缆做de-skew，因为很多时候线缆与线缆之间有一些偏差，如果不做de-skew就会导致在差分信号的正端和负端引入系统误差。然后就开启测试USB2.0软件TDSUSB2TestApp，解决方案USB物理层测试联系人如何测试USB接口的抗干扰性能？

为了模拟传输通道对信号的影响，USB协会提供了相应的测试夹具。每套测试夹具由很多块组成，可以模拟相应的PCB走线并在中间插入测试电缆。这些测试夹具通过组合可以进行发送信号质量的测试，也可以进行接收容限的测试，或者进行接收容限测试前的校准。图3.4是USB协会提供的针对10Gbps的A型接口主机及Micro-B型接口外设的测试夹具。除了使用真实的测试夹具和电缆来模拟传输通道对信号的影响外，实际测试中还可以用示波器的S参数嵌入功能来模拟加入传输通道影响，这样可以简化测试连接，也避免了夹具反复插拔造成的特性变化。图3.5是使用夹具直接引出信号，并通过示波器中的S参数嵌入功能进行通道嵌入的典型的USB3.0的信号质量测试环境。

USB4.0技术简介USB全称UniversalSerialBus(通用串行总线)，早在1994年被众多电脑厂商采纳用以解决当时接口不统一的问题。在随后二十多年时间里，USB技术不断发展，标准经历了USB1.0/1.1、USB2.0、USB3.0、USB3.1到USB3.2，直到现在的USB4.0。USB4.0直接采用的是Intel和Apple从2015年在笔记本电脑上推出的、基于Type-C接口的“雷电”Thunderbolt3协议标准，数据传输速率支持10Gbps/lane和20Gbps/lane两种速率，选择性地支持TBT3-compatible10.3125Gbps/lane和20.625Gbps/lane两种速率；同时，通过交替模式(ALTmode)支持DisplayPort，PCIE等信号标准。为了避免混淆，Intel将未来准备在笔记本电脑上部署的Thunderbolt接口，统一命名为Thunderbolt4.0。如何测试USB设备的功耗？

Type-C的接口是双面的，也就是同一时刻只有TX1+/TX1一或者TX2+/TX2-引脚上会有USB3.1信号输出，至于哪一面有信号输出，取决于插入的方向。如图3.18所示，默认情况下DFP设备在CC引脚上有上拉电阻Rp,UFP设备在CC引脚上有下拉电阻Ra,根据插入的电缆方向不同，只有CCl或者CC2会有连接，通过检测CCl或者CC2上的电压变化，DFP和UFP设备就能感知到对端的插入从而启动协商过程。信号质量的测试过程中，由于被测件连接的是测试夹具，并没有真实地对端设备插入，这就需要人为在测试夹具上模拟电阻的上下拉来欺骗被测件输出信号如何测试USB接口在高温环境下的性能？解决方案USB物理层测试联系人

什么是USB电气特性测试？解决方案USB物理层测试联系人

USB4.0的规范是2021年5月份发布的”USB4SpecificationVersion1.0withErrataandECNthroughOct.15,2020”；测试规范是2021年7月份发布的”USB4ElectricalComplianceTestSpecificationV1.02”。因为USB4.0需要支持有源电缆和无源电缆两种应用场景，针对的测试点分别是TP2和TP3，即通俗讲的近端测试和远端测试。在进行远端测试时，需要考虑无源电缆的影响。因为一根实体的无源电缆很难完整的表征所有恶劣的场景，包括插入损耗、回波损耗、串扰等，为了保证测试的一致性和可重复性，发动端测试都是用软件的算法，利用示波器嵌入S参数/传递函数的方式，实现参考链路的模拟。同时，为了保证测试精度，USB4.0要求示波器在进行信号捕获前，需要通过去嵌(De-embedded)的方式去除测试电缆的影响。解决方案USB物理层测试联系人