多端口矩阵测试眼图测量PCI-E测试

眼图能用来做什么？

眼图中包含了丰富的信息，通过眼图可以观察码间串扰和噪声的影响，了解数字信号整体的特征，从而评估系统优劣程度。因此，眼图分析是高速互连系统信号完整性分析的。工程师经常根据眼图对接收滤波器的特性加以调整，以减小码间串扰，改善系统的传输性能。

眼图的形成

对于数字信号，其高电平与低电平的变化可以有多种序列组合。以3个bit为例，有000~111共8种组合。在时域上将足够多的上述序列按某一个基准点对齐，然后将其波形叠加起来，就形成了眼图。 眼图形成原理以及参数；多端口矩阵测试眼图测量PCI-E测试

眼图的形成

眼图中包含的信息

对于一幅真实的眼图，首先我们可以看出数字波形的平均上升时间(Rise Time)、下降时间(Fall Time)、上冲(Overshoot)、下冲(Undershoot)、门限电平(Threshold/Crossing Percent)等基本的电平变换的参数。

电平变换参数

信号不可能每次高低电平的电压值都保持完全一致，也不能保证每次高低电平的上升沿、下降沿都在同一时刻。由于多次信号的叠加，眼图的信号线变粗，出现模糊(Blur)的现象。所以眼图也反映了信号的噪声和抖动：在纵轴电压轴上，体现为电压的噪声(Voltage Noise)；在横轴时间轴上，体现为时域的抖动(Jitter)。 自动化眼图测量价目表矢量网络分析仪的眼图测量及参数提取方法；

目前，泰克提供的眼图生成方案：

（1） 从数据恢复时钟（CDR），眼图模板测试：可以分为硬件CDR（PLL）和软件CDR（PLL+其它）

（2） 测量眼图的眼高、眼宽等关于眼图的参数

（3） 根据上面测量到的数据，绘制相关的图形：

抖动：趋势，频谱,

直方图, 浴盆曲线

根据上述的方案概况，

在实时示波器中，通常使用连续比特位的眼图生成方法。首先，示波器采集到一长串连续的数据波形；然后，使用软件CDR恢复时钟，用恢复的时钟切割每个比特的波形，从第1个、第2个、第3个、一直到第n-1个、第n个比特；一步是把所有比特重叠，得到眼图。

其中，实时的眼图生成方法如下：

软件时钟恢复

 眼图参数测量

全系列标准参数测量，包括幅度、定时和抖动

低抖动低噪声

单触发事件，而不是ET方法中的多触发事件，即触发一次后连续采样，减少了可能引入的抖动、噪声

支持不同的时钟恢复模型

 锁相环 (PLL)„ 相位内插重复取样 (恒定时钟, 连续位)

 数据相关分析

把跳变位与非跳变位分开

 码型长度检测，进行抖动分析 (Rj/Dj分离)

占空比失真的定义

占空比失真为在中间域值处的眼图的下降沿和上升沿之间的时间量度，测量使用启用色 度余辉功能时创建的数据库。如果下降沿和上升沿准确地在中间阈值处交叉，则没有占空比 失真。在Define Measure菜单中设置中间阈值，默认值为50%。通过交叉点和中间域值的直 方图分析来测量占空比失真。

占空比失真可以按两种格式表示：时间或百分数。以时间格式表示时，应计算在中间阈 值处的下降沿中点与上升沿中点间的实际时间差；以百分数格式表示时，以占整个位宽的百 分数来计算时间差。 眼图测量方法用中文来理解也是8个字:“同步切割+叠加显示”；

眼图高度(眼高)的定义

眼图高度即眼高，是测量眼图的垂直开口高度，测量使用启用色度余辉功能时创建的数据库，垂直直方图是由落入定义眼图的窗口内的波形数据构成的。可利用垂直直方图找到九p、外以，以及波顶电压与波底电压的标准偏差。

其中，为垂直直方图的波顶峰值的平均电压；/叩为垂直直方图的波顶峰值的标准偏差；■base为垂直直方图的波底峰值的平均电压；債防。为垂直直方图的波底峰值的标准偏差。

眼图宽度（眼宽）的定义

眼图宽度即眼宽，是测量眼图的水平开口大小，测量使用启用色度余辉功能时创建的数据库，水平直方图由落入/理和Lse定义的窗口内的波形数据创建。可以利用水平直方图找到眼图交叉点的平均时间值和标准偏差。应考虑到，噪声和抖动会使交叉点位置发生较大的变化及眼图闭合。 眼图分析与误码率分析有什么不同？自动化眼图测量价目表

眼图是什么？如何在示波器设置眼图？多端口矩阵测试眼图测量PCI-E测试

抖动大的眼图的交点，直方图是一个像素宽的交点块投射到时间轴上的投影

器件生成的固有抖动称为抖动输出。其主要来源可以分为两个：随机抖动(RJ)和确定性抖动(DJ)。可以把抖动看作从理想定时位置的、逻辑转换的定时变化，如图2中的直方图所示。这一分布显示了被不同抖动源模糊的理想定时位置。抖动分布是RJ和DJ概率密度函数的卷积。随机抖动源自各种随机流程，如热噪声和散粒噪声，其假设遵守高斯分布，如图3a所示。由于高斯分布的尾部扩展到无穷大，RJ的峰到峰值没有边界，而RJ的均方根则收敛到高斯分布的宽度上。 多端口矩阵测试眼图测量PCI-E测试