各种材料发射率测量仪解决方案

    各种物质表面的发射率（也称辐射率、黑度系数等）是表征物质表面辐射本领的物理量，是一项重要的热物性参数。在很多领域发挥着重要的作用。例如：（1）空间目标：卫星表皮、窗口材料、光学镜面等，主要解决空间目标的识别和热控问题；（2）目标：导弹的火焰与蒙皮、发射车、坦克、飞机等，主要解决红外制导和隐身问题；（3）遥感目标：地面、海洋、森林等，主要解决资源探测、灾情预报等问题；（4）民用领域：红外加热、食品烘干、医学理疗等，直接关系到人们的日常生活和身体健康。近年来，由于、、材料及能源技术的快速发展，对发射率测量提出了越来越高的要求。同时，由于探测、计算机技术的发展，发射率测量技术也得到了长足的发展。分类及原理：基尔霍夫定律是一切物体热辐射的普遍定律:吸收本领大的物体，其发射本领也大,如果物体不能发射某波长的辐射，则也不能吸收该波长的辐射。黑体对于任何波长在单位时间，单位面积上发出或吸收的辐射能都比同温度下的其它物体要多。基尔霍夫定律的意义在于将物体的吸收能力和发射能力联系起来，同时将各种物质的吸收、发射能力与黑体的吸收、发射能力联系起来。为了描述非黑体的辐射。 操作简单:探测器采用电加热设计，无须加热样品，也不需要测量温度。各种材料发射率测量仪解决方案

    该仪器符合GB/T25261-2010,JC/T1040-2007及JG/T235-2008标准要求，采用稳态量热计法原理，具有测量稳定、重现性高，测量时间短等特点，可普遍用于建筑用反射隔热涂料、节能建筑涂料、各产品质量监督检验中心、各涂料化工研究院和航空航天领域。D&S发射率测量仪AE1/RD1可测波段范围为3——30μm，可以提供快速且准确的物理表面辐射率数据，测量可重复性达到±，设备启动时间快，预热时间短，待测样品无需预热，测量时间快，相较于其他类型的设备，价格更为便宜。AE1RD1发射率操作简单，高性价比普遍受到用户的喜爱，尤其是在建筑隔热涂料行业。AE1/RD1辐射率仪测量材料的总半球发射率，测量仪只对辐射热传输响应，并且输出电压和发射率成线性关系。D&S的标度数字电压表RD1是AE1辐射率仪读数器，RD1通过可调旋钮来设定电压读数和发射率标准体的电压一致，当AE1测量待测样品上时，RD1就能直接读出发射率。 热辐射发射率测量仪调试AE1测量样品**小直径为2.25英寸（5.7cm）。

把高发射率片（发射率）放在热沉上，探头放在高发射率片上。待数值稳定不跳动后，如数值不是，则调整黑色旋钮到数值为。把低发射率片（发射率）放在热沉上，探头放在高发射率片上。待数值稳定不跳动后，如数值不是，则调侧边的校准孔到数值为。高低都调整好后，反复2次检测高低发射率片，数值均正确后开始正常测量。把需要测量的材料放到热沉上测量，待数值稳定后，读数上的数值即为被测样品的发射率。注意事项：1，需要转接头才能正常在国内使用。2，只有每次开机的时候需要校准下，校准好以后可以测量多个样品（无需再次校准）。3，为了保护高低发射率标准块，请使用的时候佩戴一次性手套，避免沾染油污。

AE1/RD1便携式半球发射率测量仪，可随时携带至需要测量的现场，无耗材成本，使用方便。可测量样品材料的发射率，辐射率。半球发射率是固体材料的一个重要物理性能参数，它体现了材料在特定温度下相对黑体的辐射能力。材料半球发射率的测试方法包括卡计法和光学方法。卡计法又包含瞬态卡计法和稳态卡计法（稳态量热计法）。美国D&S公司生产的半球发射率测量仪则为稳态量热计法。可测试材料在常温条件下的高精度、较高的半球发射率。是建筑用反射隔热涂料和航天航空热反射热涂料的半球发射率测量仪。 线性关系:该测量仪输出和发射率成线性关系，偏差小于±0.01。

SSR-ER反射率测量仪能够准确测量漫反射和镜面反射材料的太阳能吸收率和反射率，甚至还可测透明材料透射率(厚度可测6.4mm)。太阳能反射率或吸收率的***精度为0.001级别，重复精度在0.003AE1/RD1辐射率仪测量材料的总半球发射率，测量仪*对辐射热传输响应，并且输出电压和发射率成线性关系。D&S的标度数字电压表RD1是AE1辐射率仪读数器，RD1通过可调旋钮来设定电压读数和发射率标准体的电压一致，当AE1测量待测样品上时，RD1就能直接读出发射率。JG/T 375-2012 金属屋面丙烯酸高弹防水涂料(半球发射率的测定)。半球发射率发射率测量仪品牌

发射率测量仪测量时间:10 s。各种材料发射率测量仪解决方案

    校准AE1/RD1:1.设置RD1到“变量”.(downfromtheoffposition)把RD1表头数值调到，如下图所示.Dothissteponlyifrequired2.把一个高发射率标定块放在其中一个测量台上，另一个低发射率放在另一个测量台上。把标定块放上测量台之前请在测量台上滴几滴水，确保有足够的水来填满样本和散热器之间的间隙,但是也不能太多，太多的话会流到样品和探测器里面。3.把探头放在高发射率标定块上然后等60~90s直至RD1上的读数稳定。然后调节RD1上的旋钮直至该显示的数值和我们提供给您的高发射率标定块的具体发射率数值相同，我们的标定块的具体发射率数值有写在它的反面同时在其校准证书中也有。4.把探头放在低发射率标定块上然后等60~90s直至RD1上的读数稳定。然后用我们提供给您的小螺丝到调节探头上的微调螺丝，使RD1表头上显示的数值直至我们提供给您的低发射率标定块数值相同，我们的标定块的具体发射率数值有写在它的反面同时在其校准证书中也有。 各种材料发射率测量仪解决方案

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