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上海低温可靠性测试标准

来源: 发布时间:2022年09月03日

如何保证设备在以年为单位的典型使用寿命内可靠,而不会导致无法接受的生产延迟?为了解决这个问题,工程师们提出了可靠性测试的概念。可靠性测试通过以更高的温度、电压和其他环境因素的形式向被测设备(DUT)施加更大的应力,从而在功能上加速老化过程。在这个“降额”过程的不同阶段对芯片运行的统计分析揭示了设计中的潜在弱点。通过在DUT进入批量生产之前进行各种可靠性测试,制造商可以降低风险。它们降低了发布导致大量现场维修甚至召回的有缺陷产品的可能性。较终,可靠性测试增加了公司从新设计中获利的机会,并有助于促进行业的更多创新。机械可靠性测试可分为定性可靠性测试和定量可靠性测试。上海低温可靠性测试标准

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为了确认产品能在这些环境下正常工作,国标、行标都要求产品在环境方法模拟一些测试项目,上海天梯检测技术有限公司为客户提供以下可靠性测试服务: 高低温循环测试 恒温恒湿测试 交变湿热测试 低温存储测试 高温存储测试 高低温冲击测试 盐雾测试(Salt Spray Test) 开关电测试(Switch electrical test) 胶带附着力测试(The tape adhesion test) 振动测试随机/正弦(Vibration test) 包装箱自由跌落测试(Drop test) 元器件推拉力测试(Push And Pull) 蒸气老化测试(Steam Aging test) 元器件可焊性测试(Solderability test) IP等级防护测试 电源拉扭力测试 LED光衰寿命测试及认证 回焊炉试验 塑封芯片MSL等级测试上海温度冲击可靠性测试价格可靠性测试可以是实验室内的试验。

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先来看看MIL-STD-810G军规标准,它指的是:环境工程考察和实验室测试。它是一项美国jun用标准,强调通过环境测试手段,发现问题,反复修改设备的初始设计完善产品。简单的说,就是笔记本从*初设计到用料选材再到制造的整个环节都必须严格符合军规标准,只有这样*终才能够顺利通过MIL-STD-810G军规标准测试。

下面是MIL-STD-810G的几个重要测试项目:

跌落测试:顾名思义就是把产品托举到一定高度,然后使其自由落体,之后再检查它是否完好。该测试模拟我们日常工作中不慎将笔记本跌落的状况。

加速度冲击性测试:笔记本在工作台上被物体以加速形态冲撞,然后落地,基本就是模拟受到突发性冲撞。

耐久度测试:主要考察笔记本频繁使用过程中的可靠性,尤其考验转轴、排线等配件,该项测试一般都会经历几十万次开合。

影响电子产品可靠性测试结果的因素是?1.自然环境,电子元器件在工作中受环境因素影响较大,如温度、湿度、盐雾、气压、海拔高度、大气污染颗粒等都会对电子元器件的正常运行产生影响,使其电气性能下降,甚至损伤元器件,从而引发故障。2.机械结构,电子产品的机械结构设计要满足使用工况的要求,强烈的机械振动或碰撞会使设备产生机械结构的损伤变形,甚至导致电子元器件的物理损伤或失效,致使电子产品无法正常运行。3.电磁环境,环境中的电磁波无处不在,电子产品在运行中,无时无刻不与空间中的电磁信号进行接触。在电磁信号的影响下,电子电路的噪声会变大,稳定性会变差。可靠性测试是对产品进行可靠性调查、分析和评价的一种手段。

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通常环境可靠性测试分为以下三类:力学环境试验、气候环境试验和综合环境试验。力学环境试验主要包括机械振动、机械冲击、跌落、碰撞、稳态加速度试验等,气候环境试验主要包括温度试验、温湿度试验、气压试验、水试验、盐雾试验、砂尘试验、气体腐蚀试验等,综合环境试验主要包括温度气压综合试验、温度振动综合试验、温度湿度振动综合试验、温度气压湿度综合试验等。环境可靠性测试可以在产品的研发阶段、试产阶段和量产抽检阶段对产品的可靠性进行验证,有利于企业节省研发和生产成本、提高产品质量。环境可靠性测试项目和环境可靠性测试标准!上海低气压可靠性测试项目

可靠性测试的项目有很多常用的检验项目。上海低温可靠性测试标准

高压空载,低压限流态运行试验 测试说明: 高压空载运行是测试模块的损耗情况,尤其是带软开关技术的模块,在空载情况下,软开关变为硬开关,模块的损耗相应增大。低压满载运行是测试模块在较大输入电流时,模块的损耗情况,通常状态下,模块在低压输入、满载输出时,效率较低,此时模块的发热较为严重。 试验是模仿电子产品工作状态进行的,即焊点由于自身的电阻,当有电流通过时会发热,而不工作时焊点恢复到室温,从高温到室温意味着焊点经受高低温的变化,在汽车电子中有些部位电子产品中焊点升温会达刭800C以上。如果再加上环境温度交替变化那么焊点升温还会更高。故该试验方法实用性强,但试验周期长费用高,试验前应做好充分准备。上海低温可靠性测试标准

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