系统的整体结构如图1所示。从图1可以看出，整个系统由上位机、激光位移传感器和平台运动控制系统三部分组成。激光位移传感器由激光位移控制器、感测头和监视器组成。平台运动控制系统主要由平移台运动控制器、驱动器、电源和二维电动平移台组成。系统的部分设备如图2所示。图2列出了激光位移传感器感测头和二维电动平移台。图3为激光位移传感器感测头测量对象物原理。参考距离根据被测对象物的变化可测量范围为2 mm，基准距离为30 mm，传感器显示解析度为0.3μm，线性度达到满量程的0.3％，即精度达到6μm。高精度激光位移传感器的响应速度非常快，能够实时监测目标物体的位移变化。崇明区激光位移传感器源头直供厂家
公开号为CN 1 05138193A的中国发明专利申请公开一种用于光学触摸屏的摄像模组及其镜头，具体而言，该专利申请采用拉高成像物镜T方向的MTF值、压低S方向的调质传递函数(MTF)值，来提高光学触摸屏装置的灵敏性能。因此，该patent对于如何提高光学触摸屏的灵敏性能，提出了解决方案。但是，激光位移传感器不同于光学触摸屏，随着激光位移传感器的使用，很可能会因为振动、机械变形等原因，使得激光器发出的光斑无法正确投向传感器，进而导致无法进行准确检测、甚至完全无法进行测量的问题。而对于激光位移传感器所面临的设计难度高、易受振动和机械变形影响的问题，上述patent无能为力。[0007]针对上述问题，目前尚未提出有效的解决方案。崇明区激光位移传感器源头直供厂家激光位移传感器的使用非常方便。
通过所述控制面板14设置所述电动伸缩双直线导轨11伸缩至特定的距离，打开所述激光位移传感器4，使得所述激光位移传感器4的激光照射在所述激光红外线接收挡板5的接收面上，记录所述激光位移传感器4至所述激光红外线接收挡板5的距离；旋转所述位移调节把手212使得所述横向蜗杆211横向位移，记录所述电子千分表221的位移数据，记录此时所述激光位移传感器4至所述激光红外线接收挡板5的距离，通过比较所述激光位移传感器4前后两次测量的距离差与所述电子千分表221的位移数据，计算所述激光位移传感器4的误差；调节所述电动伸缩双直线导轨11的伸缩距离，重复以上测量，以减少测量误差。
所述电子测量仪22包括一电子千分表221以及一千分表夹持装置222，所述电子千分表221使得所述激光位移传感器4的检验精度极大提高；所述电子千分表221夹持在所述千分表夹持装置222上，所述千分表夹持装置222一端抵接于所述延伸部231，另一端抵接于所述横向蜗杆211上，当所述横向蜗杆211进行横向位移时，所述电子千分表221可以精确的测量位移量。所述传感器夹持装置3包括一纵向螺杆31以及一夹持器32；所述夹持器32套设在所述纵向螺杆31上，所述夹持器32可在所述纵向螺杆31上调节高度，所述激光位移传感器4夹持在所述夹持器32上。高精度激光位移传感器可以用于测量材料的压缩和伸展性能。
在采用方式2的情况下，可以在成像物镜前或成像物镜6后加入能够引入像散的光学元器件(如平板玻璃)，配合调整成像物镜6与感光元件7之间的距离时，可以在微米量级进行调整。每次调整后，可以进行MTF解析，在判断解析结果满足上述条件时，停止调节。如果调整后发现解析结果不满足上述条件，则继续进行调整。此外，在图1所示的实施例中，反光元件8设置在接收物镜6和感光元件7之间，从而可以提高所述激光位移传感器的内部空间利用率，减小其外形尺寸。在所述激光位移传感器外形尺寸允许的情况下，反光元件8可省略。在测量光斑和成像物镜6之间的带通滤光片5被用来滤除或降低杂散光对测量系统的影响。激光位移传感器在金属行业的应用案例。崇明区激光位移传感器源头直供厂家
非接触式位移传感器的出现推动了现有技术的适应，以满足新的测量要求并提高测量的准确性和分辨率。崇明区激光位移传感器源头直供厂家
通过将空间频率为62.5lp/mm时的MTF解析结果保持在MTFS＞MTFT×10或MTFT＞MTFS×10，尤其是让解析结果满足：MTFS≥0.5且MTFT＜0.05、或者MTFT≥0.5且MTFS＜0.05，能够让光斑在感光元件的感光单元的主要排列方向上的延伸更加明显，进一步降低成像物镜的设计难度、以及制造和维护成本；对于弧矢方向和子午方向MTF值差距不大的成像物镜，通过在成像物镜前和/或在成像物镜后加入能够引入像散的光学元器件(如平板玻璃等)，配合微调成像物镜与所述感光元件之间的相对距离来使得成像物镜和感光元件所组成整体的MTF值满足上述要求，能够很容易地让光斑被拉长，更加容易被感光元件所接收；崇明区激光位移传感器源头直供厂家