加工-测量-再加工-再测量是非球面加工的必要过程。非球面透镜的高精度检测不仅包括非球面表面形状的检测，还包括非球面中心偏差的测量。要求非球面透镜的形状误差在几厘米到几十厘米的范围内小于1μm。受现有冷加工工艺、车床运动误差、磨削力变形及检测误差的限制，加工的非球面光学元件会产生一些质量缺陷，无法保证跨尺度的产品满足高精度要求。为了使非球面透镜表面形状误差、中心偏差等参数满足设计精度要求，往往需要利用被加工非球面工件的中心偏差检测信息进行多误差校正和补偿加工。激光位移传感器可以通过多种反射板、透镜、精密磁盘、刀具等配套组件实现不同的测量要求。国产位移传感器常用解决方案
现在的电子设备需要更高效、更小、更快的PCB板，而这些板必须通过使用高度集成的组件变得更加强大。为了确保这些组件在正确的位置上连接，需要使用高精度的测量系统来检测它们的位置。这对传感器提出了一系列挑战，包括需要小的光斑焦点直径、高测量速度和高测量精度。使用非接触高精度的激光位移传感器可以满足这些要求，它们可以检测PCB板和高度集成的组件的位置，以确保它们在正确的高度位置和水平位置上连接。这些传感器可以应用于医疗设备、智能手机和机床等各种电子设备的制造中。高速位移传感器激光位移传感器的精度高达亚微米级别，并且响应速度快，适用于高速运动物体的测量。
激光位移传感器是一种精密测量设备，常被广泛应用于工业生产中。它利用激光束来测量目标物体与传感器之间的距离，并将其转化为电信号输出。激光位移传感器具有高精度和快速响应的特点，在自动化装配线中可以用于测量零件的尺寸和位置，以确保装配的准确性和一致性。此外，激光位移传感器还可以应用于机械加工过程中，用于测量工件的尺寸和形状，以确保加工精度和质量。总之，激光位移传感器在工业生产中发挥着重要的作用，提高了生产效率和产品质量。
采用激光三角法测量易拉罐罐盖开启口压痕的残余厚度时，要求不仅能测量生产线上易拉罐罐盖开启口刻痕的残余厚度，而且还要对易拉盖模具的磨损情况进行评估。此时，激光三角法的测量精度除了会受到散斑的影响外，还会受到精细结构对测量精度的影响。激光三角法测量的重要假定是发射光束始终与被测物体表面法线方向一致，约定被测表面上入射光点处的法线与入射光方向不重合时称被测表面发生了倾斜，其夹角称为倾斜角E53。当用激光束照射易拉盖的开启口刻痕的斜面和拐角时，被测物表面与入射光不是垂直的，即被测面发生了倾斜。此时，即便物光点的位移与垂直入射时相同，但由于被测面的倾斜改变了散射光的光场相对于接收透镜的空间分布，使得电荷耦合器件(CCD)上会聚光斑的光能质心的位置相对于垂直入射时发生了改变，因而CCD的输出不再与垂直入射式相同。在此情形下，若仍使用垂直入射时的标定曲线来确认位移，必然会产生误差。这就是精细结构对测量精度的主要影响。激光位移传感器的测量范围较窄，通常适用于小范围、高精度的测量。
激光三角法测量不仅具有大的偏置距离和大的测量范围，而且测量系统结构相对简单，维护方便，可有效应用于三维曲面的非接触精密测量中；但同时由于其测量精度与被测物体表面结构、特性及环境条件等因素有关，当激光三角法应用于易拉罐罐盖开启口压痕残余厚度测量时，要求测量精度达到1μm，从上面的分析可以看到，由于激光光点尺寸、激光散斑和精细结构对测量精度的影响，导致激光三角法测量结果失去实际的参考价值。所以为了提高测量精度，必须针对罐盖微小刻痕的具体结构选用适当的激光尺寸、尽可能抑制激光散斑及环境因素对测量精度的影响。激光位移传感器可以测量物体的线性位移、倾角位移和振动等参数。高精度位移传感器调试
不同型号的激光位移传感器在精度、测量频率、成本等方面存在差异，需要根据实际需求进行选择。国产位移传感器常用解决方案
当以一端孑L轴线为基准来求同轴度时，此时对于测量装置的测量精度要求非常高，因为当孔间距大时，同轴度误差受测量误差的影响很大。如图2所示，在左侧基准圆柱上测量两个截面圆，构造一条直线。假设基准圆柱上两测量截面间的距离较小，距离为10mm，而基准圆柱一截面与被测圆柱一截面间的距离较大，距离为100mm，即该检测方案的同轴度对采样点的敏感系数很大。如果基准圆柱第二截面圆的圆心有5“m的测量误差，则测量轴线到达被检截面时已偏离了5μmxl00／10=50μm。此时即使被检轴线与基准轴线完全同轴，同轴度误差的测量结果也会有接近2μm×50=100μm的误差。所以，对于减速器轴承孔这种“短基准、长距离”的同轴度检测问题来说，测量误差容易被放大。实际中，应以两轴承孔的公共轴线作为基准，然后分别求得两端轴线的两端点到基准轴线的距离，四者距离中的最大值的2倍作为减速器两端轴承孔的同轴度。该测量方法类似于传统的芯轴检测方式，也类似于零件的装配过程，同时也避免了测量误差放大的现象产生。国产位移传感器常用解决方案