晶柱生长红外测温仪服务电话

为什么红外测温仪比较高只能测量1000°C，而红外热像仪却能测量到1200°C，甚至2000°C？红外测温仪测温的误差到底有多少°C呢？红外热像仪测温的误差到底有多少°C呢？在实际应用中，到底怎么选择红外测温仪和红外热像仪？2、相关的红外测温原理很多人都看过和学过红外测温原理，但说实在的，真正理解红外测温原理的并不是很多，在实际红外测温设备选型时，能不自觉地应用红外测温原理的更不多。下面做一些简单计算：温度在1000°C时，发射率变化1%或10%：用8-14μm红外测温仪或红外热像仪，测量温度的***误差是8°C(参见图片中**上面的那条曲线)。如果发射率变化10%呢？那么测温的***误差=10%发射率变化要乘以10x8°C=80°C。用1μm(0.78-1.06μm)红外测温仪或红外热像仪，测量温度的***误差是1.5°C(参见图片中红色曲线)。如果发射率变化10%呢？那么测温的***误差=10%发射率变化要乘以10x1.5°C=12°C。红外测温仪就是通过激光定位，然后对目标区域内的温度实现测量。晶柱生长红外测温仪服务电话

红外测温仪原理：黑体是一种理想化的辐射体，它吸收所有波长的辐射能量，没有能量的反射和透过，其表面的发射率为 1。但是，自然界中存在的实际物体，几乎都不是黑体，为了弄清和获得红外辐射分布规律，在理论研究中必须选择合适的模型，这就是普朗克提出的体腔辐射的量子化振子模型，从而导出了普朗克黑体辐射的定律，即以波长表示的黑体光谱辐射度，这是一切红外辐射理论的出发点，故称 黑体辐射定律。所有实际物体的辐射量除依赖于辐射波长及物体的温度之外，还与构成物体的材料种类、制备方法、热过程以及表面状态和环境条件等因素有关。美国雷泰红外测温仪要么将测温仪存放在测量地，要么测量前等待红外测温仪的温度适应测量位置的温度。

测温仪，是温度计的一种，用红外线传输数字的原理来感应物体表面温度，操作比较方便，特别是高温物体的测量。应用***，如钢铸造、炉温、机器零件、玻璃及室温、体温等各种物体表面温度的测量。用得比较多的是红外测温仪。红外测温仪由光学系统、光电探测器、信号放大器及信号处理、显示输出等部分组成。光学系统汇聚其视场内的目标红外辐射能量，视场的大小由测温仪的光学零件及其位置确定。红外能量聚焦在光电探测器上并转变为相应的电信号。该信号经过放大器和信号处理电路，并按照仪器内部的算法和目标发射率校正后转变为被测目标的温度值。

测温门也叫温度测量及金属探测安检门。其测温技术原理是：由于物体的红外辐射特性与它的表面温度有着十分密切的关系，因此，通过对物体自身辐射的红外能量的测量，便能准确地测定它的表面温度。这种技术测量的比较大优点是测试速度快，1秒钟以内可测试完毕，而且因为它只接收人体对外发射的红外辐射，没有任何其他物理和化学因素作用于人体，所以对人体无任何害处。此外，测温安检门保留了红外测温仪探测的功能，可以在体温高于基准线或探测到金属时报警。使用红外测量仪器进行非接触式温度测量时，*会测得其表面温度。

1800年，英国天文学家F.W.赫歇尔发现了红外线。上世纪70年代，红外测温仪和电荷耦合器件被成功应用。上世纪末，以焦平面阵列（FPA）为**的红外器件被成功应用。红外技术的**是红外探测器，红外探测器按其特点可分为四代：***代（1970s－80s）：主要是以单元、多元器件进行光机串/并扫描成像；第二代（1990s－2000s）：是以4x288为**的扫描型焦平面；第三代：凝视型焦平面；第四代：目前正在发展的以大面阵、高分辨率、多波段、智能灵巧型为主要特点的系统芯片，具有高性能数字信号处理功能，甚至具备单片多波段探测与识别能力。有许多地方都需要测温度，但没有工具的话就只能瞎蒙，所以选择一款趁手的红外测温仪是非常有必要的。视频瞄准功能红外测温仪高性价比

红外测温仪技术专业：行业标准拟定企业和20多年技术专业测量技术性可信赖。晶柱生长红外测温仪服务电话

德国DIAS标准二线制DT40G测玻璃**在线式红外测温仪1二线制，4~20mA温度线性输出2USB通讯接口3集成式测温仪，不锈钢外壳4适合于普通玻璃，浮法玻璃，熔融玻璃，玻璃器皿，玻璃成型，玻璃纤维等型号DT40G测温范围100~1300℃200~1400℃500~2500℃光谱响应5.14μm测量误差1%测量值或1℃重复精度0.5%测量值或0.5℃响应时间60ms，可调，至100s发射率0.200~1.000可调输出信号4~20mA，温度线性，最大负荷：700Ω@24V瞄准激光瞄准（可选）功耗比较大0.6W（不带激光瞄准灯）操作温度0~70℃存储温度-20~70℃电源24VDC±25%重量395g尺寸螺纹M40×1.5，长度125mm安全等级IP65供货范围主机，操作手册，检测单,电缆单独订购晶柱生长红外测温仪服务电话

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