在半导体行业,圆晶减薄当然是非常精密的加工过程。在减薄过程中,需要用接触式或非接触式传感器严格控制加工过程。从步骤来看,封装前,圆晶需要达到正确的厚度,这是半导体生产的关键。圆晶背面研磨(圆晶减薄)是一种半导体生产工序,在此期间需要严格控制圆晶厚度,使圆晶达到超薄的厚度,可叠放和高密度封装在微型电子器件中。马波斯传感器甚至可检测到砂轮与圆晶接触的瞬间或检查任何过载。同时,马波斯传感器可在干式和湿式环境中可靠地在线测量厚度。马波斯集团Hetech品牌一直致力于泄漏检测系统领域的研究,也是这一崭新市场生产商的有力战略合作伙伴。变速器检测设备产品资料
Optoflash可以测量超高分辨率精度的型号用于超小尺寸的工件。OptoflashXS提供了超高级别的分辨精度密度,所以更适合小工件和小公差带。因此,OptoflashXS具有超高精度的图像分辨率。另外,Optoflash外观设计紧凑为生产车间现场而设计,也可用于实验室环境。将光学处理系统和软件系统集成在一体机内。除此之外,Optoflash具有超快的测量速度操作人员只需要把工件放在测量平台上,然后按“开始START”按钮,两秒后即可完成工件测量。江苏变速器检测设备方法MARPOSS嗅探氦气泄漏测试方案能够测量10-2 - 10-4 SCC/sec的泄漏,该技术在漏率范围内取得了良好测试结果。
Optoquick可直观的测量验证,测量报告易于理解,通过清晰的图像,显示超出公差范围的结果,用于简单分析的真实工件图像。Optoquick L系列是大型重型工件测量的比较好选择。可通过手动或机器人自动模式将工件装载在Optoquick上。尾架为自动化移动式,能够全自动夹紧工件和实现换型。智能控制界面使得生产管理者能通过简单的指令与Optoquick互动。Optoquick支持多个工件的测量程序。因此,可通过简单的指令按顺序测量不同的工件。它可在数秒之内从一个程序切换到另一个程序,以消除新生产批次设置中的任何延迟情况。
Optoflash能够保证紧固件的质量控制。螺栓、销钉和铆钉都可以通过Optoflash实现快速测量。标准的测量选项里包括螺纹测量功能:螺纹大径、螺纹小径、螺纹中径、螺距、啮合角度、螺纹总长度、螺纹起始点角向、螺纹轴线、螺纹同轴度等。基于2D图像采集技术,Optoflash是测量涡轮增压器的完美解决方案比较大的优势在于,Optoflash可通过一张2D图像采集到整个工件轮廓,所以能够用更快的速度测量到整个叶片的轮廓(而不是数个截面),并且更加精确可靠。Optoflash的测量速度是传统线扫描光学系统的两倍。进行氦气试漏的方法有多种,即对真空腔进行整体测试 这体现的是优异与有效的选择。
在单啮和变速箱(减速机)偏差分析方面,2速或1速变速箱(减速机)零件加工必须满足高精度要求,以确保零件装配后不会对车辆造成额外的噪音。SF测试是齿轮加工后的啮合旋转测试。测试时,标准齿轮至于适当的安装位置:其与待测齿轮齿隙适当,且单面啮合。然后光学编码器测量其相对于标准齿轮的角位移。SF测试结果包括变速箱(减速机)偏差数据的采集和噪音分析。Marposs还开发了一种特殊的单啮测试方案,用于在实验室测试原型零件,以改善齿轮设计过程。马波斯T3LD是一种新颖的压差法泄漏测试装置。通过测量被测产品与参考样品之间的压差,可以缩短测试时间。天津电池pack 组检测设备厂家
泄漏测试是电池pack装配过程中的要求用于检查电池pack气密性,保证电池pack内部的高压零部件不会出现短路。变速器检测设备产品资料
对于半导体行业来说,圆晶测量和缺陷检测都是半导体生产的关键环节,检测和控制生产中的每一步生产质量。为了显微测量,马波斯提供2D光谱共焦线扫相机。在超高分辨率和超大景深应用中,可在Z轴上准确聚焦。因此,这是检测圆晶缺陷的理想选择,例如,圆晶沿的检测和封装期间的检测。这些传感器都允许集成在测量和检测设备中。马波斯和STIL在数十年的发展中积累了丰富的经验,可为用户提供量身定制解决方案和的光学设计。马波斯的小横向分辨率为0.4μm * 0.4μm,大倾斜角为+/-45°,0.75数值孔径。变速器检测设备产品资料
马波斯(上海)测量设备科技有限公司是以提供机床领域检测系统,标准与非标尺寸检测,泄漏与装配测试,工业电脑与软件内的多项综合服务,为消费者多方位提供机床领域检测系统,标准与非标尺寸检测,泄漏与装配测试,工业电脑与软件,公司成立于2006-05-15,旗下马波斯,已经具有一定的业内水平。公司承担并建设完成机械及行业设备多项重点项目,取得了明显的社会和经济效益。马波斯工业测量将以精良的技术、优异的产品性能和完善的售后服务,满足国内外广大客户的需求。