什么是光谱共焦技术?光谱共焦位移传感器提供比较好的技术以满足非接触尺寸测量**苛刻的要求。基于使用空间彩色编码的创新光学原理,光谱共焦传感器使用户能够以非凡的精确度对任何类型的材料进行测量。传感器适用于绝大多数行业:计量或研究实验室中的高精度仪器,工业生产线上的质量控制。用于工业环境中的设计,传感器的各系列,吸引集成器与测量检测机器轻松连接,这归功于为每台仪器提供的动态链接库(DLL)。光谱共焦成像基于2个原则:l共焦成像l光轴的彩色编码。共焦装置是一种光学装置,光学系统在物体的表面上产生点光源S的图像S’。反向散射光由相同的光学系统收集,该光学系统在***S’’处成像。***被置于光电探测器的前面,它过滤可以到达光电探测器的光线,因此它也被称为“空间滤波器”。共焦装置的特点是具有特殊的信噪比。按照CCI原理,光学系统是彩色光学头,光电探测器是一个光谱仪。马波斯测量科技为您提供专业的光谱共焦传感器,欢迎您的来电哦!黑龙江stil传感器价格
什么是光谱共焦?光学传感器提供比较好的技术以满足非接触尺寸测量**苛刻的要求。基于使用空间彩色编码的创新光学原理,我们的传感器使用户能够以非凡的精确度对任何类型的材料进行测量。用于工业环境中的设计,STIL传感器的各系列,吸引集成器与测量检测机器轻松连接,这归功于为每台仪器提供的动态链接库(DLL)光学原理我们的光学传感器基于高度创新的共焦彩色成像原理。入射的白光***通过彩色物镜成像为沿Z轴的连续单色图像,从而沿光轴提供“颜色编码”反向散射的光束通过过滤***进入光谱仪,该光谱仪确定波长已完全聚焦于物体上,然后精确地确定其在测量场的位置。共聚焦光谱成像技术以极高的分辨率提供可靠、精确和可再现的尺寸测量。黑龙江stil传感器价格非接触式测量,一体化设计,3D轮廓扫描,多功能数据处理适用于各种材料的精确测量。
在半导体行业应用:LED芯片三维测量LED晶圆光学检测BGA半导体封装光伏晶圆表面形貌测量涂层厚度时与部件无任何接触。激光和红外传感器可分析2至50厘米距离的涂层。这意味着可以在工业涂层环境中测量部件,即使它们位于移动产线上、在高温环境中,甚至易碎或潮湿环境中。由于激光束产生的热量极少,因此测量过程中涂层和部件都不会被损坏或改变。因此,对于那些迄今已有的方法会破坏测试样品的工业运用,它也可以系统地测量每个部件。测量通常不到一秒钟,具有高度重复性。这样可以控制高达100%的涂层部件,严格遵循涂层工艺性能并实时反应以保持比较好状
在具体测量过程,需保证光强和量程预警指示灯为绿色,则测量的数据质量好,重复性精度高。如遇到橙色或红色显示,则需要根据上述方法调整传感器的状态。如尝尽上述方法都未能解决问题,请及时联系我们说的售后工程师,我们将帮助您解决该问题与您分享光谱共焦传感器光笔测头知识讲解与注意事项首先,测头是可以更换的:同一个控制器多可存储20个对应于不同的测头的校准表数据,即可配备20个不同的测头。其次,测头是完全无源的:因为它没有包含热源和移动部件,所以要避免可能影响传感器测量过程精度的任何热膨胀。将测头连接在控制器上的光缆长可以定做到10m,当整理光纤线时避免将其弯曲成曲率半径小于20mm的圆弧光谱共焦传感器,就选马波斯测量科技,欢迎客户来电!
光强信号指示灯显示当前光强是否超过5%。当测量样品未在量程范围内,此时不存在测量信号,该指示灯为熄灭状态。当光强信号大于5%,信号灯点亮为绿色,表明测量数据质量较高。当光强信号小于5%时,信号灯则会显示为橙色预警,提示用户当面光强信号较弱,测量数据效果不佳。此时应该当信号灯点亮为红色时,表明当前光强信号为100%。测量数据的质量存在不确定性,因此可以尝试一下方法解决:量程预警信号灯当前样品是否在测量范围内,当样品不在量程范围内时,该信号灯为熄灭状态。当样品位于量程的15%-85%区间时,该信号灯点亮为绿色。而当样品位于量程的15%以下或85%以上时,该信号灯则显示为橙色,此时测量的数据仍是有效的,只不过需要警惕样品超出量程范围。马波斯测量科技致力于提供专业的光谱共焦传感器,有想法的可以来电咨询!吉林光谱共焦视觉检测传感器测量范围
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Zenith采样频率:400Hz-5000Hz主要优势稳定通过15位编码增强性能,提供测量值稳定性非接触非接触式技术适用于所以不接触被测产品的情况下进行测量。全材料光谱共焦技术可测量各种能够反射的材料(例如:金属、玻璃、塑料、漆膜、液体等)。适配可更换的MARPOSSSTIL光学笔:CL-MG/OP/Endo/Everest系列同步主从模式的多传感器测量,编码器触发功能。应用汽车玻璃玻璃容器和包装行业(PCB)电子工业、3C、半导体行业(硅片)、精密仪器行业、电动车行业(电池)黑龙江stil传感器价格