南通XG测长仪定制

光栅测长机示值误差的校准，与光学机械式分米精度的校准方法是相同的，只是判断的要求不同。量块是几何量计量领域里使用广和准确度较高的实物标准量具之一。量块是由两个相互平行的测量面之间的距离来确定其工作长度的高准确度量具。激光具有较高的单色性、方向性以及相干性强等特点，它是用激光光束作为测量基准，测量精度高。目前已被广用于大量程测量设备的示值校准。弥补了量块、高等别线纹尺等实物标准量具，测量范围的有限，也提高了校准工作的效率。我们的测长机具有高度可靠性和稳定性，能够长时间运行而不影响测量结果。南通XG测长仪定制

使用环境：可以直接在车间里使用，测长机使用花岗岩为平台，对环境温度的要求不高，可以在恶劣环境中使用，下面让我们一起了解一下这款神器。数显测长机采用进口数显表进行长度位置值读取，便于直观、简便的测量。用光栅尺进行移动距离检测，光栅尺的膨胀系数与钢的膨胀系数接近，减少温度变化带来的系统误差。测长机采用花岗岩作为平台，平台稳定、无变形扭曲。在平台上加装高精度的直线导轨，使测量头架运行轻便。测试头架在导轨上运动，带动光栅尺的动尺相对定尺进行运动，从而检测出测量块测量面之间的距离，在测量面之间进行管尺长度的校准，实现长度标准的传递。扬州UCK测长机定制价格上海万能测长仪厂家哪家好？

但是按照阿贝原则设计的仪器，由于被测长度必须布置在基准元件沿运动方向的延长线上，基准元件占据了测量方向上的空间，使测量长度范围的上限受到了限制。例如当图3测长机能测量1米时，同样外形大小的图2测长机只能测量0.5米。这使得按阿贝原则设计仪器的外形很长，仪器的结构刚度减低，并且成本增加。因此,某些测长机采用违背阿贝原则的设计是不得已而为之。违反阿贝原则的测长机，在设计时，必须采取措施对所产生的阿贝误差进行补偿或提高导轨的运动精度，从而减小阿贝误差的发生。这种措施被称为艾伯斯坦原理.它可以表述为:在实际测量中,利用各种机构，使可能产生的误差相互抵消和削弱，或者故意引进新的误差，以减小某些误差的影响。

UCK系列高精度光栅式万能测长仪采用进口高精度光栅、精密研磨导轨、双向恒测力系统和软件控制系统技术，实现待测件各参数的高精度测量。高精密研磨导轨确保了测量的高稳定性及直线度，采用进口高精度光栅测量系统确保了数据的准确性和可靠性，由电脑软件将数据与测量平台、测力系统、温度传感器温度和光栅采集数据进行计算分析得出各被测件的数据，测量量程达到0-500/1000mm，主要用于实验室检测量块、光面环规、光面塞规、螺纹环规、螺纹塞规、卡规、量棒、针规尺类、表类等器具。便携式测长机维修服务就找上海野齿仪器科技有限公司！

光学测长机在设计上违背阿贝原则,它是如何补偿所产生的阿贝误差呢?当尾座沿基座导轨运动时，由于导轨存在直线度误差，使尾座发生角偏摆，尾座测头前倾，造成测量误差ΔL。此时，尾座下方的成像光路也发生角偏摆，致使分米尺在测量座毫米尺上的成像位置产生位移ΔLʹ。由于测量端到分米尺的高度H与分米尺成像系统焦距fʹ相等，因此，ΔLʹ和ΔL的决对值几乎相等，符号相反，可以相互抵消，违反阿贝原则所造成的误差得到补偿。光学测长机是一种应用艾伯斯坦原理，使误差互相抵消的成功范例我们的测长机产品具有灵活的配置和扩展性，能够满足不同客户的个性化需求。江苏测长机维修公司

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以线纹尺的刻度或光波波长作为已知长度，利用机械测头进行接触测量的光学长度测量工具。测长机具有能在3个坐标内移动和2个坐标内转动的可调工作台，还带有不同测头和附件，常用于检定大尺寸量块和测量多种工件的内、外尺寸。测帽的选择和调整本投影测长机是用接触法测量的，所以测帽的选择和调整可以避免较大的测量误差。测帽选择的原则是被测件与测帽的接触面为极小，即接近于点或线。1、测量平面物体时，使用R20球形测帽;2、测量圆柱物体时，使用1.5*8刃形测帽;3、测量球形物体时，使用φ2、φ8平面测帽;4、三针法测量外螺纹中径时，使用φ8、φ14，中、大平面测帽。南通XG测长仪定制