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来源: 发布时间:2023年08月26日

阿贝原则由德国的阿贝教授确立,是长度测量仪器设计的基本原则。测长机有三种类型:光学测长机、光栅测长机和激光测长机。在设计上,有的符合阿贝原则,有的不符合阿贝原则,它们在设计上是如何考虑的呢?阿贝原则可表述为:在进行长度测量时,要使测量给出准确的结果,必须将被测件布置在基准元件沿运动方向的延长线上。计量器具或测量方法违背“阿贝原则”而引起的测量误差,被称之为“阿贝误差”。被侧件放在测量座上的测量端B和尾座上的固定端A之间进行测量。C为基准元件。满足被测件布置在基准元件沿运动方向的延长线上。固定在底座支架上的读数头D用于读取长度。测量前先使测量座的测量端与尾座上的固定端重合,确定测量起点。测量时,移动测量座,由于底座导轨微小的起伏,测量座在移动的同时还产生了转动,其角偏摆为α,造成基准元件的位移量L与被测件实际长度Lʹ存在差异,所产生的测量误差按下式计算:式中α为角偏摆,单位为弧度。当α为10秒时,化成弧度α=,α平方就更小,因此,所产生的测量误差可以忽略不计。测长机的测量范围广,适用于各类尺寸和形状的产品。UCK测长仪售后公司

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但是按照阿贝原则设计的仪器,由于被测长度必须布置在基准元件沿运动方向的延长线上,基准元件占据了测量方向上的空间,使测量长度范围的上限受到了限制。例如当图3测长机能测量1米时,同样外形大小的图2测长机只能测量0.5米。这使得按阿贝原则设计仪器的外形很长,仪器的结构刚度减低,并且成本增加。因此,某些测长机采用违背阿贝原则的设计是不得已而为之。违反阿贝原则的测长机,在设计时,必须采取措施对所产生的阿贝误差进行补偿或提高导轨的运动精度,从而减小阿贝误差的发生。这种措施被称为艾伯斯坦原理.它可以表述为:在实际测量中,利用各种机构,使可能产生的误差相互抵消和削弱,或者故意引进新的误差,以减小某些误差的影响。UCK测长仪售后公司测长机的测量结果准确可靠,可以帮助客户提高产品质量和生产效率。

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万能测长仪在实际的校准活动中,我们发现直接校准方法得到的校准结果,与激光干涉仪校准得到的结果存在差异,测长机使用者往往会心存在疑惑。万能测长仪造成这种差异的原因是用量块直接校准时,量块是放在测长机工作台上的,在调整量块的过程中,工作台的性能也综合在内,这样的校准方法更接近测长机的工作状态。万能测长仪用激光干涉仪校准时,校准值是通过测长机的尾座移动来实现的,未综合测长机工作的性能。所以这两种测量方法的差异是客观存在的。万能测长仪一般情况下,这个差异量是一个可以接受的范围。万能测长仪测长机的用途:用于长度测量,广用于校对管尺等长度校准,同比传统的量块方式,尺寸更准确,使用也更为方便,避免尺寸出错。

如果被测工件的内径大于100mm,则用范围之内的内径标准器对测量仪进行校对,,首先将内径标准器固定在工作台上,并保证其处于恰当位置且固定可靠,将两个测钩靠在一起,并锁紧测量轴的紧固螺钉,避免与测钩发生碰撞,并可以使其顺利深入内径标准器的内孔,旋转工作台升降手轮,使内径标准器到达测高位置并锁紧,松开测座锁紧螺母,调整左边测座的位置使微分筒中的观测值趋近零,然后锁紧锁紧螺母,调节前后手轮使微分筒中找到拐点(最大值)位置,扭动水平扳手,使微分筒中找到拐点(最小值),多重复几次,直到微分筒中的观测值不会发生改变,这是松开微分筒目镜下的锁紧螺母,调整其左边的微调旋钮,使微分筒内的主副尺零位对齐,这样就对好了可以测大于100mm的内径工件了,此时的零位实际值是进行校对的内径标准器的实际值。上海万能测长仪生产厂家哪家好?

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双钩法测量光面环规孔径用标准环规作标准件本次测量选用的两个光面环规。其中被测量光面环规孔径名义尺寸Dm=71.145mm,标准环规孔径的实际尺寸Db=50.0009mm。测量前的准备工作①将一对大测钩分别安装在活动尾管及主轴上,挂上内测砝码;②在测量菜单区点击“双钩法测量”,在设置菜单区会有对应的“双钩法测内尺寸参数”被,;③点击“双钩法测内尺寸参数”,会出现一个对话框,见图3。按对话框提示,输入标准环规实际尺寸后,按“确定”。测长机的软件界面友好,操作简单,用户体验良好。淮安万能测长仪厂家批发

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按微米刻度读出误差r1。重新使微米刻度尺的零线与指标线对准,转动尾管的微动螺丝,使毫米刻线与0.1mm刻度尺的零线位移对准,同时与螺旋线(双线)对准。在测帽之间换放3mm量块,按上述方法进行对准,并取读数r2。放大倍数误差a按式(7.3.2)求得,即式中:△Ln,△L1分别为后和起始量块的偏差值(um);n为配对数。读数装置的回程误差,要求,应不超过0.2um。检定方法,转动微米刻度,使其零线与指标线对准,移动测量轴,使毫米刻度尺的任一毫米刻线与螺旋线(或双线)大致对准。UCK测长仪售后公司

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