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DDR测试MIPI测试热线

来源: 发布时间:2023年06月13日

本文中的MIPI接口用于@示驱动芯片,基于MIPI-DSI协议来设计,包括一个时钟通道和两个数据通道。全部数据通道都可用于单向的高速传输,但只有条数据通道才可用于低速双向传输,从属端的状态信息,像素等是通过该数据通道返回。时钟通道用于在高速传输数据的过程中传输同步时钟信号。高速接收电路是MIPI接口实现高传输速率的关键模块,在本文中,时钟通道和两个数据通道采用相同的高速接收电路结构,单通道数据传输速率可达到1Gbps。。MIPI-DSI接口IP设计与仿真;DDR测试MIPI测试热线

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电路结构

在高速模式下,主机端的差分发送模块以差分信号驱动互连线,高速通道上呈现两种状态,differentia-0differential-1,从属端的高速接收单元将低摆幅的差分数据通过高速比较器转换成逻辑电平。在串行转并行模块中,高速时钟对数据进行双沿采样,将高速串行数据转换成两路并行数据,交给后续数字电路处理。高速接收单元的总体电路结构。

输入终端电阻由于输入数据信号频率高,需要进行阻抗匹配,因此在比较器的差分输入端dp/dn之间跨接了100欧姆终端电阻,由开关进行控制,当系统要进行高速数据传输时,就将该终端电阻使能。由于电阻值随工艺角、温度笔变化比较大,因此在终端电阳RO(50欧姆)的其础上增加了一个电阳,分别由三位控制信号控制,可通过改变控制字改变电阻大小,使终端电阻值在各工艺角及温度下均能满足协议要求。比较器终端电阻电路结松。 DDR测试MIPI测试热线MIPI-DSI接口电路构架;

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MIPI-DS

IMIPI-DSI是一种应用于显示技术的串行接口,兼容DPI(显示像素接口,Display Pixel Interface)、DBI(显示总线接口,Display Bus Interface)和DCS(显示命令集,Display Command Set),以串行的方式发送像素信息或指令给外设,而且从外设中读取状态信息或像素信息,而且在传输的过程中享有自己的通信协议,包括数据包格式和纠错检错机制。下图所示的是MIPI-DSI接口的简单示意图。MIPI-DSI具备高速模式和低速模式两种工作模式,全部数据通道都可以用于单向的高速传输,但只有个数据通道才可用于低速双向传输,从属端的状态信息、像素等格式通过该数据通道返回。时钟通道于在高速传输数据的过程中传输同步时钟信号。此外,一个主机端可允许同时与多个从属端进行通信。

(3)HS信号电平判决和建立/保持时间容限(GROUP3:HS-RXVOLTAGEANDSETUP/HOLDREQUIREMENTS):其中包含了被测件对于HS信号共模电压、差分电压、单端电压、共模噪声、建立/保持时间的容限测试等。(TestIDs:2.3.1,2.3.2,2.3.3,2.3.4,2.3.5,2.3.6,2.3.7.2.3.8)

(4)HS信号时序容限测试(GROUP4:HS-RXTIMERREQUIREMENTS):其中包含了对于HS和LP间状态切换时的一系列时序参数的容限测试。(TestIDs;2.4.1,2.4.22.4.3,2.4.4,2.4.5,2.4.6,2.4.7,2.4.8,2.4.9,2.4.10,2.4.11)

D-PHY的接收端测试中,需要用到多通道的码型发生以产生多通道的D-PHY的信号,码型发生器需要在软件的控制下改变HS/LP信号的电平、偏置、注入噪声、改变时序关系等。图13.13是以Agilent公司的81250并行误码仪平台构建的一套D-PHY信号的接收容限测试系统。 带有MIPI接口的新型传感器;

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国际移动行业处理器(MIPI)联盟日前正式发布了针对移动电话的显示器串行接口规范(DisplaySerialInterfaceSpecification,DSI)。DSI基于MIPI的高速、低功率可扩展串行互联的D-PHY物理层规范。

基于SLVS的物理层支持高达1Gbps的数据速率,同时产生极小的噪声。基于D-PHY技术,DSI增加了功能以满足移动设备显示子系统的需要,包括低功率模式、双向通信、16、18和24位像素的本国语言支持,并具备单一接口驱动4块显示屏的能力,以及对缓冲和非缓冲面板的支持。 时序测试:测试MIPI接口的信号时序是否符合规范,包括时钟频率、数据延迟、数据速率等;DDR测试MIPI测试热线

HS模式下时钟和数据线间的时序关系测试;DDR测试MIPI测试热线

为了适应两种不同的运行模式,接收机端的端接必须是动态的。在HS模式下,接收机端必须以差分方式端接100Ω;在LP模式下,接收机开路(未端接)。HS模式下的上升时间与LP模式下是不同的。

接收机端动态端接加大了D-PHY信号测试的复杂度,这给探测带来极大挑战。探头必须能够在HS信号和LP信号之间无缝切换,而不会给DUT带来负载。必须在HS进入模式下测量大多数全局定时参数,其需要作为时钟测试、数据测试和时钟到数据测试来执行。还要在示波器的不同通道上同时采集Clock+(Cp)、Clock-(Cn)、Data+(Dp)、Data-(Dn)。 DDR测试MIPI测试热线

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