多端口矩阵测试眼图测试多端口矩阵测试

主要参数如下：（1）眼图张开的宽度决定了接收波形可以不受串扰影响而抽样再生的时间间隔。显然，比较好抽样时刻应选在眼睛张开比较大的时刻。（2）眼图斜边的斜率，表示系统对定时抖动（或误差）的灵敏度，斜率越大，系统对定时抖动越敏感。（3）眼图左（右）角阴影部分的水平宽度表示信号零点的变化范围，称为零点失真量，在许多接收设备中，定时信息是由信号零点位置来提取的，对于这种设备零点失真量很重要。（4）在抽样时刻，阴影区的垂直宽度表示比较大信号失真量。（5）在抽样时刻上、下两阴影区间隔的一半是小噪声容限，噪声瞬时值超过它就有可能发生错误判决。（6）横轴对应判决门限电平。眼图测试产品服务应用领域。多端口矩阵测试眼图测试多端口矩阵测试

误码率在数字电路系统中，发送端发送出多个比特的数据，由于多种因素的影响，接收端可能会接收到一些错误的比特（即误码）。错误的比特数与总的比特数之比称为误码率，即BitErrorRatio，简称BER。误码率是描述数字电路系统性能的**重要的参数。在GHz比特率的通信电路系统中（比如FibreChannel、PCIe、SONET、SATA），通常要求BER小于或等于。误码率较大时，通信系统的效率低、性能不稳定。影响误码率的因素包括抖动、噪声、信道的损耗、信号的比特率等。 设备眼图测试保养克劳德高速数字信号测试实验室眼图测试。

    理论分析得到如下几条结论，在实际应用中要以此为参考，从眼图中对系统性能作一论述：（1）比较好抽样时刻应在“眼睛”张开比较大的时刻。（2）对定时误差的灵敏度可由眼图斜边的斜率决定。斜率越大，对定时误差就越灵敏。（3）在抽样时刻上，眼图上下两分支阴影区的垂直高度，表示比较大信号畸变。（4）眼图**的横轴位置应对应判决门限电平。（5）在抽样时刻，上下两分支离门限**近的一根线迹至门限的距离表示各相应电平的噪声容限，噪声瞬时值超过它就可能发生错误判决。（6）对于利用信号过零点取平均来得到定时信息的接收系统，眼图倾斜分支与横轴相交的区域的大小表示零点位置的变动范围，这个变动范围的大小对提取定时信息有重要的影响。

 DDR眼图测试1-3

在早期设计阶段，如何完整评价DDR信号质量和时序等参数呢，这里为大家介绍一个设计到验证的流程。ADS提供了W2351EPDDR4一致性分析工具，在ADS仿真后，生成波形可以直接导入到运行于电脑里的示波器离线分析软件Infiniium和N6462ADDR4/LPDDR4一致性测试套件，这个软件可以分析前面所说的JEDEC对DDR4信号要求的电气和时序等参数，判断是否符合规范要求，以测试报告形式呈现，这种方式可以在设计阶段发现违规问题，及时改进设计，缩短研发周期，降低硬件开发成本。另一方面，在硬件已经打板回来，可以通过V系列等示波器测试信号，通过实际的信号检查存在的问题，将仿真的结果和实际测试的结果做相关对比，进一步迭代优化仿真模型和测量方法，使仿真和测试结果逐渐逼近。 构建眼图和进行眼图模板测试的方法？

DDR眼图测试1-4

DDR4 做测试时，由于 BGA 信号难以探测，是德科技提供了 N2114A/N2115A 等DDR4 Interposer，将 BGA 下方的信号引到 Interposer ，方便探头焊接，为了减少 Interposer 对信号带来影响，在 interposer 内专门有埋阻设计，减少由于分支和走线带来的阻抗不连续和对信号的负载效应；但为了精确测量，我们需要对 BGA Interposer 带来的误差进行修正。可以通过 InfiniiSim 或在 DDR4 一致性测试软件N6462A 内进行去嵌，在软件内使用多端口拓扑模型，载入 Interposer 的S 参数，生成从探头测试点到 BGA 焊球位置的去嵌传递函数，在示波器中测得去嵌后的波形，下图可以看到去嵌后信号眼图的改善。 数字信号在示波器上而显示的图形。设备眼图测试保养

一种眼图测试方法,系统,设备及介质？多端口矩阵测试眼图测试多端口矩阵测试

数字信号抖动的成因

 抖动反映的是数字信号偏离其理想位置的时间偏差。高频数字信号的比特周期都非常短，很小的抖动都会造成信号采样位置电平的变化，所以高频数字信号对于抖动都有严格要求。高速的串行数字信号对抖动的要求更加严格，同时由于其传输路径比较复杂，中间可能会受到各种因素的影响，所以其总体抖动也可能是由不同的抖动分量组成的，而且不同分量对于系统性能的影响也不一样。因此，很多更高速率的串行信号测试在中，出来知道抖动的均方根植或者峰峰值以外，还会要求对抖动的各个成分进行分解和分析。 多端口矩阵测试眼图测试多端口矩阵测试

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