无锡半自动场效应管分类

用测电阻法判别结型场效应管的电极根据场效应管的PN结正、反向电阻值不一样的现象，可以判别出结型场效应管的三个电极。具体方法：将万用表拨在R×1k档上，任选两个电极，分别测出其正、反向电阻值。当某两个电极的正、反向电阻值相等，且为几千欧姆时，则该两个电极分别是漏极D和源极S。因为对结型场效应管而言，漏极和源极可互换，剩下的电极肯定是栅极Ｇ。也可以将万用表的黑表笔（红表笔也行）任意接触一个电极，另一只表笔依次去接触其余的两个电极，测其电阻值。当出现两次测得的电阻值近似相等时，则黑表笔所接触的电极为栅极，其余两电极分别为漏极和源极。若两次测出的电阻值均很大，说明是ＰＮ结的反向，即都是反向电阻，可以判定是Ｎ沟道场效应管，且黑表笔接的是栅极；若两次测出的电阻值均很小，说明是正向ＰＮ结，即是正向电阻，判定为Ｐ沟道场效应管，黑表笔接的也是栅极。若不出现上述情况，可以调换黑、红表笔按上述方法进行测试，直到判别出栅极为止。场效应管由于它不存在杂乱运动的电子扩散引起的散粒噪声，所以噪声低。无锡半自动场效应管分类

场效应晶体管的一个优点是它的栅极到主电流电阻高（≥100 MΩ），从而使控制和流动彼此。因为基极电流噪声将随着整形时间而增加，场效应晶体管通常比双极结型晶体管 (BJT)产生更少的噪声，因此可应用于噪声敏感电子器件，例如调谐器和用于甚高频和卫星接收机的低噪声放大器。场效应晶体管对辐射相对免疫。它在零漏极电流下不显示失调电压，因此是一款出色的信号斩波器。场效应晶体管通常比双极结型晶体管具有更好的热稳定性。因为场效应晶体管是由栅极电荷控制的，所以在某下状态下一旦栅极闭合或打开，就不会像使用双极结晶体管或者是非闭锁的继电器一样有额外的功率损耗。这允许极低功率开关，这反过来又允许电路更小型化，因为与其他类型的开关相比，散热需求减少了。江苏isc场效应管接线图漏极(D)，载流子通过漏极离开沟道。通常，在漏极处进入通道的电流由ID表示。

MOS场效应管也被称为金属氧化物半导体场效应管(MetalOxideSemiconductor FieldEffect Transistor, MOSFET)。它一般有耗尽型和增强型两种。增强型MOS场效应管可分为NPN型PNP型。NPN型通常称为N沟道型，PNP型也叫P沟道型。对于N沟道的场效应管其源极和漏极接在N型半导体上，同样对于P沟道的场效应管其源极和漏极则接在P型半导体上。场效应管的输出电流是由输入的电压（或称电场）控制，可以认为输入电流极小或没有输入电流，这使得该器件有很高的输入阻抗，同时这也是我们称之为场效应管的原因。

场效应管的测试判定:栅极用万用表黑表笔碰触管子的一个电极，红表笔分别碰触另外两个电极。若两次测出的阻值都很小，说明均是正向电阻，该管属于N沟道场效应管，黑表笔接的也是栅极。制造工艺决定了场效应管的源极和漏极是对称的，可以互换使用，并不影响电路的正常工作，所以不必加以区分。源极与漏极间的电阻约为几千欧。　　注意不能用此法判定绝缘栅型场效应管的栅极。因为这种管子的输入电阻极高，栅源间的极间电容又很小，测量时只要有少量的电荷，就可在极间电容上形成很高的电压，容易将管子损坏。HIGFET (异质结构绝缘栅场效应晶体管)现在主要用于研究。

场效应管转移特性曲线：栅极电压对漏极电流的控制称为转移特性，反映两者关系的曲线称为转移特性曲线。N沟结型场效应管的转移特性曲线如图。当栅极电压取出不同的电压时，漏极电流随之变化。当栅极电压=0时，ID值为场效应管饱和漏极电流IDSS；当漏极电流=0时，栅极电压的值为结型场效应管夹断UQ。输出特性曲线：当 Ugs确定时，反映 ID与 Uds的关系曲线是输出特征曲线，又称漏极特性曲线。按图示可划分为三个区域：饱和区、击穿区和非饱和区。当起放大作用时，应该在饱和区内工作。请注意，这里的“饱和区”对应普通三极管的“放放区”。场效应晶体管通常比双极结型晶体管 (BJT)产生更少的噪声，因此可应用于噪声敏感电子器件。无锡半自动场效应管分类

1960年Dawan Kahng发明了金属氧化物半导体场效应晶体管。无锡半自动场效应管分类

场效应管的主要参数：① 开启电压VGS（th） （或VT）开启电压是MOS增强型管的参数，栅源电压小于开启电压的好不要值，场效应管不能导通。② 夹断电压VGS（off） （或VP）夹断电压是耗尽型FET的参数，当VGS=VGS（off） 时，漏极电流为零。③ 饱和漏极电流IDSS耗尽型场效应三极管，当VGS=0时所对应的漏极电流。④ 输入电阻RGS场效应三极管的栅源输入电阻的典型值，对于结型场效应三极管，反偏时RGS约大于107Ω，对于绝缘栅场型效应三极管，RGS约是109～1015Ω。无锡半自动场效应管分类

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